Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Microcapacitors on graphene oxide and synthetic polymers prepared by microbeam lithography

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F20%3A43920444" target="_blank" >RIV/60461373:22310/20:43920444 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/61389005:_____/20:00534240 RIV/44555601:13440/20:43895556

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433220315592" target="_blank" >https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433220315592</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.146802" target="_blank" >10.1016/j.apsusc.2020.146802</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Microcapacitors on graphene oxide and synthetic polymers prepared by microbeam lithography

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Carbon-ion microbeam writing was employed for the mask-less production of microscale capacitors in insulating graphene oxide (GO), polyimide (PI) and poly(methyl-methacrylate) (PMMA) foils. The substrates were irradiated by a 5 MeV C beams with micrometer-scale resolution to create conductive strips. The morphology and quality of the created microstructures and compositional changes in the host matrix under the ion microbeam irradiation were studied using scanning electron microscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy. The changes in the structure and elemental composition of the irradiated areas were characterised by Raman micro-spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, Rutherford backscattering spectroscopy and elastic recoil detection analysis. The microcapacitors with the highest capacitance (in the order of pF) were those prepared on the GO surface. On the other hand, in PI and PMMA, the same carbon-ion irradiation does not induce such a significant enhancement of electric properties and the capacity of the resulting capacitor-like structures is substantially lower. © 2020 Elsevier B.V.

  • Název v anglickém jazyce

    Microcapacitors on graphene oxide and synthetic polymers prepared by microbeam lithography

  • Popis výsledku anglicky

    Carbon-ion microbeam writing was employed for the mask-less production of microscale capacitors in insulating graphene oxide (GO), polyimide (PI) and poly(methyl-methacrylate) (PMMA) foils. The substrates were irradiated by a 5 MeV C beams with micrometer-scale resolution to create conductive strips. The morphology and quality of the created microstructures and compositional changes in the host matrix under the ion microbeam irradiation were studied using scanning electron microscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy. The changes in the structure and elemental composition of the irradiated areas were characterised by Raman micro-spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, Rutherford backscattering spectroscopy and elastic recoil detection analysis. The microcapacitors with the highest capacitance (in the order of pF) were those prepared on the GO surface. On the other hand, in PI and PMMA, the same carbon-ion irradiation does not induce such a significant enhancement of electric properties and the capacity of the resulting capacitor-like structures is substantially lower. © 2020 Elsevier B.V.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10402 - Inorganic and nuclear chemistry

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2020

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Surface Science

  • ISSN

    0169-4332

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    528

  • Číslo periodika v rámci svazku

    OCT 30 2020

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    11

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000576739600009

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85086823551