Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS).

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F02%3A54020238" target="_blank" >RIV/61388955:_____/02:54020238 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS).

Popis výsledku v původním jazyce

Kapitola je věnována hmotnostní spektroskopii sekundárních iontů (SIMS). Jsou diskutovány všechny aspekty metody, zahrnující iontové rozprašování, tvorba sekundárních iontů včetně relevantních teorií, instrumentace, kvantitativní analýza a aplikace metody.

Název v anglickém jazyce

Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).

Popis výsledku anglicky

The chapter is devoted to all aspects of secondary ion mass spectrometry (SIMS). It covers ion sputtering, production of secondary ions and relevant theories, instrumentation, quantification and applications.

Druh

C - Kapitola v odborné knize

CEP obor

CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2002

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název knihy nebo sborníku

Iontové, sondové a speciální metody.

ISBN

80-200-0594-3

Počet stran výsledku

55

Strana od-do

147-201

Počet stran knihy

—

Název nakladatele

Academia

Místo vydání

Praha

Kód UT WoS kapitoly

—