Explanation of the apparent depth resolution improvement by SIMS using cluster ion detection

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F20%3A00538978" target="_blank" >RIV/68378271:_____/20:00538978 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1116/6.0000108" target="_blank" >https://doi.org/10.1116/6.0000108</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1116/6.0000108" target="_blank" >10.1116/6.0000108</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Explanation of the apparent depth resolution improvement by SIMS using cluster ion detection
Popis výsledku v původním jazyce
The apparent improvement of the depth resolution in secondary ion mass spectrometry depth profiles using cluster secondary ions as compared to single ion profiles is explained on basis of an attractive interaction enhancing cluster formation.
Název v anglickém jazyce
Explanation of the apparent depth resolution improvement by SIMS using cluster ion detection
Popis výsledku anglicky
The apparent improvement of the depth resolution in secondary ion mass spectrometry depth profiles using cluster secondary ions as compared to single ion profiles is explained on basis of an attractive interaction enhancing cluster formation.

Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2020
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)