Propustnost podél hranic zrn v dobře definovaných polykrystalických vrstvách silikalitu-1 a v samostatných krystalech
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F04%3A00101100" target="_blank" >RIV/61388955:_____/04:00101100 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Permeability of Grain Boundaries in well Defined Silicalite-1 Polycrystalline Layers and Single Crystals
Popis výsledku v původním jazyce
Self-supporting silicalite-1 layers were grown on mercury surface from clear solutions at temperatures 140-180 oC. Large silicalite-1 crystals were synthesized using TPABr as template. Layer morphology and thickness were characterized by SEM. Phase purity of silicalite-1 and orientation of crystals were determined by XRD. Layers with the thickness > 40 .mu.m were found to be highly compact. Wet HF etching of as-synthesized polycrystalline silicalite-1 layers caused formation of deep sharp slits at grainboundaries and thus it visualized them. Contrary to this result etching of calcined layers led to a kind of a negative image represented by preserved thin shells at crystal boundaries which were found to be impregnated by carbon residues formed during template removal. Results of etching experiments give a strong indication of the existence of a thin amorphous silica interface between neighbouring crystals. The etching patterns were somewhat different for large silicalite-1 crystals.
Název v anglickém jazyce
Permeability of Grain Boundaries in well Defined Silicalite-1 Polycrystalline Layers and Single Crystals
Popis výsledku anglicky
Self-supporting silicalite-1 layers were grown on mercury surface from clear solutions at temperatures 140-180 oC. Large silicalite-1 crystals were synthesized using TPABr as template. Layer morphology and thickness were characterized by SEM. Phase purity of silicalite-1 and orientation of crystals were determined by XRD. Layers with the thickness > 40 .mu.m were found to be highly compact. Wet HF etching of as-synthesized polycrystalline silicalite-1 layers caused formation of deep sharp slits at grainboundaries and thus it visualized them. Contrary to this result etching of calcined layers led to a kind of a negative image represented by preserved thin shells at crystal boundaries which were found to be impregnated by carbon residues formed during template removal. Results of etching experiments give a strong indication of the existence of a thin amorphous silica interface between neighbouring crystals. The etching patterns were somewhat different for large silicalite-1 crystals.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2004
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings.CHISA 2004
ISBN
80-86059-40-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
12
Strana od-do
1-11
Název nakladatele
—
Místo vydání
Praha
Místo konání akce
Praha
Datum konání akce
22. 8. 2004
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—