Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

XPS studie oxidace povrchu vanadu působením iontů kyslíku

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F06%3A00035884" target="_blank" >RIV/61388955:_____/06:00035884 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    XPS study of vanadium surface oxidation by oxygen ion bombardment

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Oxidation of vanadium metal surfaces at room temperature by low-energy oxygen ion beams is investigated by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). it is observed that ion-beam irradiation of clean V results in formation of thin oxide layer containing vanadium in oxidation states corresponding to VO, V2O3, VO2 and V2O5 oxides. The composition of the products of ion-beam oxidation depends markedly on oxygen ion fluence. The results of angle-resolved XPS measurements are consistent with a structure of oxide film with the outermost part enriched in V2O5 and VO2 oxides and with V2O3 and VO oxides located in the inner region of the oxide layer.

  • Název v anglickém jazyce

    XPS study of vanadium surface oxidation by oxygen ion bombardment

  • Popis výsledku anglicky

    Oxidation of vanadium metal surfaces at room temperature by low-energy oxygen ion beams is investigated by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). it is observed that ion-beam irradiation of clean V results in formation of thin oxide layer containing vanadium in oxidation states corresponding to VO, V2O3, VO2 and V2O5 oxides. The composition of the products of ion-beam oxidation depends markedly on oxygen ion fluence. The results of angle-resolved XPS measurements are consistent with a structure of oxide film with the outermost part enriched in V2O5 and VO2 oxides and with V2O3 and VO oxides located in the inner region of the oxide layer.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA104%2F04%2F0467" target="_blank" >GA104/04/0467: Charakterizace dopovaného oxidu titanu s optimalizovanými fotokatalytickými vlastnostmi</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Surface Science

  • ISSN

    0039-6028

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    600

  • Číslo periodika v rámci svazku

    8

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    1628-1631

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus