Study of Ti, V and Their Oxides-Based Thin Films in the Search for Hydrogen Storage Materials

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F15%3A10314541" target="_blank" >RIV/00216208:11320/15:10314541 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://przyrbwn.icm.edu.pl/APP/PDF/128/a128z3p34.pdf" target="_blank" >http://przyrbwn.icm.edu.pl/APP/PDF/128/a128z3p34.pdf</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.12693/APhysPolA.128.431" target="_blank" >10.12693/APhysPolA.128.431</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Study of Ti, V and Their Oxides-Based Thin Films in the Search for Hydrogen Storage Materials

Popis výsledku v původním jazyce

Thin film series consisting of Ti, V, TiO2 and V2O5 layer with different layer geometries, sequences and thicknesses have been prepared by the sputtering technique. The hydrogen depth profile of selected films upon hydrogen charging at 1 bar and/or hydrogenation at pressure up to 102 bar was determined by using secondary ion mass spectrometry and nuclear reaction analysis using a N-15 beam. The highest hydrogen storage with a concentration up to 50 at.% was found in the pure Ti and Ti-contained layer, while it amounts to around 30% in the metallic Ti-V-Ni layer. Hydrogen can diffuse through the TiO2 layer without accumulation, but can be stored in the VO2 layer in some cases. Hydrogen can remove the preferential Ti orientation in the films and induce acomplete transition of V2O5 into VO2 in the films.

Název v anglickém jazyce

Study of Ti, V and Their Oxides-Based Thin Films in the Search for Hydrogen Storage Materials

Popis výsledku anglicky

Thin film series consisting of Ti, V, TiO2 and V2O5 layer with different layer geometries, sequences and thicknesses have been prepared by the sputtering technique. The hydrogen depth profile of selected films upon hydrogen charging at 1 bar and/or hydrogenation at pressure up to 102 bar was determined by using secondary ion mass spectrometry and nuclear reaction analysis using a N-15 beam. The highest hydrogen storage with a concentration up to 50 at.% was found in the pure Ti and Ti-contained layer, while it amounts to around 30% in the metallic Ti-V-Ni layer. Hydrogen can diffuse through the TiO2 layer without accumulation, but can be stored in the VO2 layer in some cases. Hydrogen can remove the preferential Ti orientation in the films and induce acomplete transition of V2O5 into VO2 in the films.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/7AMB14PL036" target="_blank" >7AMB14PL036: Struktura, elektronové a magnetické vlastnosti hydridů na bázi f-kovů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Acta Physica Polonica A

ISSN

0587-4246

e-ISSN

—

Svazek periodika

128

Číslo periodika v rámci svazku

3

Stát vydavatele periodika

PL - Polská republika

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

431-439

Kód UT WoS článku

000366356700034

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-84947718120