Mikrovlnné plazmatické iontové zdroje pro hmotnostní spektrometrii v proudové trubici s vybranými ionty. Optimalizace jejich výkonnosti a detekčních limitů pro analýzu stopových plynů
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F07%3A00088033" target="_blank" >RIV/61388955:_____/07:00088033 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Microwave plasma ion sources for selected ion flow tube mass spectrometry: Optimizing their performance and detection limits for trace gas analysis
Popis výsledku v původním jazyce
The performance of the ion sources used in selected ion flow tube mass spectrometry, SIFT-MS, instruments is paramount in determining their sensitivities and detection limits for trace gas analysis. The microwave discharge plasma ion source that is currently used for the production of currents of the precursor H3O+, NO+ and O2+ ions for SIFT-MS is described, and the ion chemistry occurring within the plasma and the dissociation of the precursor ions on the helium carrier gas are considered. Thus, it isshown that the most suitable ion source gas composition is a mixture comprising maximal water vapour and minimal air at the lowest total pressure at which the discharge is sustained and stable. It is also shown that the injection energies of the precursor ions into the helium carrier gas must be kept low to minimize collisional dissociation of the ions and thus to minimize the fraction of reactive impurity ions in the carrier gas.
Název v anglickém jazyce
Microwave plasma ion sources for selected ion flow tube mass spectrometry: Optimizing their performance and detection limits for trace gas analysis
Popis výsledku anglicky
The performance of the ion sources used in selected ion flow tube mass spectrometry, SIFT-MS, instruments is paramount in determining their sensitivities and detection limits for trace gas analysis. The microwave discharge plasma ion source that is currently used for the production of currents of the precursor H3O+, NO+ and O2+ ions for SIFT-MS is described, and the ion chemistry occurring within the plasma and the dissociation of the precursor ions on the helium carrier gas are considered. Thus, it isshown that the most suitable ion source gas composition is a mixture comprising maximal water vapour and minimal air at the lowest total pressure at which the discharge is sustained and stable. It is also shown that the injection energies of the precursor ions into the helium carrier gas must be kept low to minimize collisional dissociation of the ions and thus to minimize the fraction of reactive impurity ions in the carrier gas.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA202%2F06%2F0776" target="_blank" >GA202/06/0776: Pokročilý výzkum a vývoj zdrojů nízkoteplotního plazmatu</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
International Journal of Mass Spectrometry
ISSN
1387-3806
e-ISSN
—
Svazek periodika
267
Číslo periodika v rámci svazku
1-3
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
117-124
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—