Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Monitoring the doping of graphene on SiO2/Si substrates during the thermal annealing process

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F16%3A00462412" target="_blank" >RIV/61388955:_____/16:00462412 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1039/C6RA10764H" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1039/C6RA10764H</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1039/C6RA10764H" target="_blank" >10.1039/C6RA10764H</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Monitoring the doping of graphene on SiO2/Si substrates during the thermal annealing process

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Various doping levels of graphene on SiO2/Si substrates are reported in the literature. We show by in situ Raman spectroscopy that the heating of chemical vapor deposited graphene on SiO2/Si during the transfer process is the main factor causing this unintended doping of graphene samples. Large areas of graphene were analyzed using Raman spectroscopy, before and after the thermal treatment, to demonstrate that the effects of heating are spread throughout the graphene layer. The perturbations caused by the exposure of supported graphene during the first heating cycle (in vacuum) are irreversible, even though the samples were later in contact with the atmosphere. These results clarify deviations found in the Raman data obtained for transferred chemical vapor deposited graphene by different authors.

  • Název v anglickém jazyce

    Monitoring the doping of graphene on SiO2/Si substrates during the thermal annealing process

  • Popis výsledku anglicky

    Various doping levels of graphene on SiO2/Si substrates are reported in the literature. We show by in situ Raman spectroscopy that the heating of chemical vapor deposited graphene on SiO2/Si during the transfer process is the main factor causing this unintended doping of graphene samples. Large areas of graphene were analyzed using Raman spectroscopy, before and after the thermal treatment, to demonstrate that the effects of heating are spread throughout the graphene layer. The perturbations caused by the exposure of supported graphene during the first heating cycle (in vacuum) are irreversible, even though the samples were later in contact with the atmosphere. These results clarify deviations found in the Raman data obtained for transferred chemical vapor deposited graphene by different authors.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LL1301" target="_blank" >LL1301: Od grafenových hybridních nanostruktur k ekologické elektronice</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    RSC Advances

  • ISSN

    2046-2069

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    6

  • Číslo periodika v rámci svazku

    JUL 2016

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    8

  • Strana od-do

    72859-72864

  • Kód UT WoS článku

    000381513300125

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-84982684416