Optical Near-Field Electron Microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388955%3A_____%2F21%3A00544249" target="_blank" >RIV/61388955:_____/21:00544249 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://hdl.handle.net/11104/0321279" target="_blank" >http://hdl.handle.net/11104/0321279</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevApplied.16.014008" target="_blank" >10.1103/PhysRevApplied.16.014008</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Optical Near-Field Electron Microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

The imaging of dynamical processes at interfaces and on the nanoscale is of great importance throughout science and technology. While light-optical imaging techniques often cannot provide the necessary spatial resolution, electron-optical techniques damage the specimen and cause dose-induced artifacts. Here, optical near-field electron microscopy (ONEM) is proposed, an imaging technique that combines noninvasive probing with light, with a high-spatial-resolution readout via electron optics. Close to the specimen, the optical near fields are converted into a spatially varying electron flux using a planar photocathode. The electron flux is imaged using low-energy electron microscopy, enabling label-free nanometric resolution without the need to scan a probe across the sample. The specimen is never exposed to damaging electrons.

Název v anglickém jazyce

Optical Near-Field Electron Microscopy

Popis výsledku anglicky

The imaging of dynamical processes at interfaces and on the nanoscale is of great importance throughout science and technology. While light-optical imaging techniques often cannot provide the necessary spatial resolution, electron-optical techniques damage the specimen and cause dose-induced artifacts. Here, optical near-field electron microscopy (ONEM) is proposed, an imaging technique that combines noninvasive probing with light, with a high-spatial-resolution readout via electron optics. Close to the specimen, the optical near fields are converted into a spatially varying electron flux using a planar photocathode. The electron flux is imaged using low-energy electron microscopy, enabling label-free nanometric resolution without the need to scan a probe across the sample. The specimen is never exposed to damaging electrons.

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

10403 - Physical chemistry

Projekt

<a href="/cs/project/GX19-26854X" target="_blank" >GX19-26854X: Souhra lipidů, iontů a bílkovin a její role v dynamice a funkci buněčných membrán</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2021

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Physical Review Applied

ISSN

2331-7019

e-ISSN

2331-7019

Svazek periodika

16

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

014008

Kód UT WoS článku

000677430000002

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85109284871