The advanced analysis of slow non-stretched exponential decay kinetics from Si nanocrystals

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388963%3A_____%2F17%3A00485535" target="_blank" >RIV/61388963:_____/17:00485535 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216208:11320/17:10370566
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1142/9789813224537_0026" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1142/9789813224537_0026</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1142/9789813224537_0026" target="_blank" >10.1142/9789813224537_0026</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The advanced analysis of slow non-stretched exponential decay kinetics from Si nanocrystals
Popis výsledku v původním jazyce
The procedure of reliable extraction of average decay lifetimes was demonstrated with an example of slow non-stretched exponential photoluminescence kinetics from multilayers of Si nanocrystals and three different fitting models, namely: 1) multi-exponential, 2) combination of mono- and stretched exponential as well as 3) lognormal distribution of decay rates. All three decay models gave the same average decay lifetime 68 ± 1 µs.
Název v anglickém jazyce
The advanced analysis of slow non-stretched exponential decay kinetics from Si nanocrystals
Popis výsledku anglicky
The procedure of reliable extraction of average decay lifetimes was demonstrated with an example of slow non-stretched exponential photoluminescence kinetics from multilayers of Si nanocrystals and three different fitting models, namely: 1) multi-exponential, 2) combination of mono- and stretched exponential as well as 3) lognormal distribution of decay rates. All three decay models gave the same average decay lifetime 68 ± 1 µs.

Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Physics, Chemistry and Application of Nanostructures: Reviews and Short Notes: Proceedings of International Conference Nanomeeting - 2017
ISBN
978-981-3224-52-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
110-113
Název nakladatele
World Scientific
Místo vydání
Singapore
Místo konání akce
Minsk
Datum konání akce
30. 5. 2017
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)