Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Effect of medium energy He+, Ne+ and Ar+ ion irradiation on the Hf-In-C thin film composites

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61388980%3A_____%2F22%3A00557032" target="_blank" >RIV/61388980:_____/22:00557032 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68378271:_____/22:00557675 RIV/61389005:_____/22:00557032

  • Výsledek na webu

    <a href="https://doi.org/10.1016/j.tsf.2021.139052" target="_blank" >https://doi.org/10.1016/j.tsf.2021.139052</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2021.139052" target="_blank" >10.1016/j.tsf.2021.139052</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Effect of medium energy He+, Ne+ and Ar+ ion irradiation on the Hf-In-C thin film composites

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Thin films of Hf-In-C ternary compounds were synthesized by a 2-step method consisting of a low-energy ion beam sputtering and thermal annealing. The radiation tolerance of the composites and the effects of irradiation by medium energy light and heavy ions (100 keV He+, 100 keV Ne+, and 200 keV Ar+) with an extreme fluence (10(17) ions/cm(2)) were analyzed by several methods: composition and profiling of elements by Rutherford Backscattering Spectroscopy and Nuclear Resonance Analysis, microstructure and surface morphology by High Resolution Transmission Electron Microscopy and Atomic Force Microscopy, and mechanical properties (elastic modulus and hardness) by nanoindentation.The study showed that the as-prepared Hf-In-C thin films form a mixture of different binary and ternary phases, including nanostructured Hf2InC, and oxides of metallic building elements. The irradiation with light ions (He+) had only a mild effect on the structure, composition, and mechanical properties of the composites. However, irradiation with heavy ions (Ne+, Ar+) led to a significant change in all monitored parameters and an overall collapse of the sample structure (especially for the Ar+ ions). It turned out that although thin Hf-In-C composites show to be highly tolerant to light ions, they have very limited resistivity to medium energy heavy ions.

  • Název v anglickém jazyce

    Effect of medium energy He+, Ne+ and Ar+ ion irradiation on the Hf-In-C thin film composites

  • Popis výsledku anglicky

    Thin films of Hf-In-C ternary compounds were synthesized by a 2-step method consisting of a low-energy ion beam sputtering and thermal annealing. The radiation tolerance of the composites and the effects of irradiation by medium energy light and heavy ions (100 keV He+, 100 keV Ne+, and 200 keV Ar+) with an extreme fluence (10(17) ions/cm(2)) were analyzed by several methods: composition and profiling of elements by Rutherford Backscattering Spectroscopy and Nuclear Resonance Analysis, microstructure and surface morphology by High Resolution Transmission Electron Microscopy and Atomic Force Microscopy, and mechanical properties (elastic modulus and hardness) by nanoindentation.The study showed that the as-prepared Hf-In-C thin films form a mixture of different binary and ternary phases, including nanostructured Hf2InC, and oxides of metallic building elements. The irradiation with light ions (He+) had only a mild effect on the structure, composition, and mechanical properties of the composites. However, irradiation with heavy ions (Ne+, Ar+) led to a significant change in all monitored parameters and an overall collapse of the sample structure (especially for the Ar+ ions). It turned out that although thin Hf-In-C composites show to be highly tolerant to light ions, they have very limited resistivity to medium energy heavy ions.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10402 - Inorganic and nuclear chemistry

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2022

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Thin Solid Films

  • ISSN

    0040-6090

  • e-ISSN

    1879-2731

  • Svazek periodika

    743

  • Číslo periodika v rámci svazku

    FEB

  • Stát vydavatele periodika

    CH - Švýcarská konfederace

  • Počet stran výsledku

    13

  • Strana od-do

    139052

  • Kód UT WoS článku

    000784446700001

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85122000442