Characterizace Ag-As-S a Ag-Sb-S amorfních vrstev připravených pomocí pulsní laserové depozice

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F04%3A00105578" target="_blank" >RIV/61389005:_____/04:00105578 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/61389005:_____/04:00309645 RIV/61389013:_____/04:00309645

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Characterization of Ag-As-S and Ag-Sb-S amorphous films prepared by pulsed laser deposition

Popis výsledku v původním jazyce

Thin amorphous films of Ag-As-S and Ag-Sb-S systems have been prepared by pulsed laser deposition (PLD) at five different conditions, i.e. at different pulse energies and pulse repetition intervals of the KrF laser. The obtained films were analysed by RBS, ERDA (elastic recoil detection analysis) spectral analysis and also EDXA elemental analysis. The results of RBS and EDXA analysis were compared to the composition of the source bulk glass materials. Film compositions varied compared to the source material according to the deposition condition with film composition close to the stoichiometric one, i.e. AgAsS2 and AgSbS2 could be prepared by the PLD technique. RBS spectroscopy is known as an important tool for establishing depth distribution of the elements within the prepared films. The thickness of the films was chosen so that depth profiling of the entire layer is possible. ERDA allowed us to find, apart from all obvious atoms (Ag, As, Sb, S), also H atoms present in the films. T...

Název v anglickém jazyce

Characterization of Ag-As-S and Ag-Sb-S amorphous films prepared by pulsed laser deposition

Popis výsledku anglicky

Thin amorphous films of Ag-As-S and Ag-Sb-S systems have been prepared by pulsed laser deposition (PLD) at five different conditions, i.e. at different pulse energies and pulse repetition intervals of the KrF laser. The obtained films were analysed by RBS, ERDA (elastic recoil detection analysis) spectral analysis and also EDXA elemental analysis. The results of RBS and EDXA analysis were compared to the composition of the source bulk glass materials. Film compositions varied compared to the source material according to the deposition condition with film composition close to the stoichiometric one, i.e. AgAsS2 and AgSbS2 could be prepared by the PLD technique. RBS spectroscopy is known as an important tool for establishing depth distribution of the elements within the prepared films. The thickness of the films was chosen so that depth profiling of the entire layer is possible. ERDA allowed us to find, apart from all obvious atoms (Ag, As, Sb, S), also H atoms present in the films. T...

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA203%2F02%2F0087" target="_blank" >GA203/02/0087: Studium opticky indukované difuze a rozpouštění stříbra v tenkých vrstvách amorfních chalkogenidů připravených metodou "spin coating" a její uplatnění v praxi</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Surface and Interface Analysis

ISSN

0142-2421

e-ISSN

—

Svazek periodika

36

Číslo periodika v rámci svazku

8

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

1140-1143

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—