Epitaxní rekrystalizace rozhraní Ni/MgO(001)
Popis výsledku
V článku jsou uvedeny výsledky postupné epitaxní rekrystalizace tenké vrstvy Ni deponované na monokrystal MgO(001). Systém Ni/MgO(001) byl žíhán při teplotách 500 ? 600 ? 700 ? 800 ? 900 - 1000°C vždy 1 hod. v argonové atmosféře a po každém žíhání analyzován pomocí Roentgenové difrakční analýzy a metodou RBS-kanálování. Ukázalo se, že postupné žíhání systému vedlo především k podstatnému zlepšení krystalické kvality deponované niklové vrstvy. Epitaxní restrukturalizace však probíhala nelineárně, což naznačilo, že tento proces probíhal při různých teplotách složitým způsobem.
Klíčová slova
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Epitaxial re-crystallization of the Ni/MgO(001) interfaces
Popis výsledku v původním jazyce
Metal/ceramic interfaces have become important for advanced technologies in a variety of ways. To effectively tailor their properties, it is important to understand the mechanisms which govern the structural formation of the systems during deposition orpost-deposition processing. Here, results on epitaxial re-crystallization of the Ni/MgO(0 0 1) interfaces are reported: (i) as deposited, the Ni films were grown on the MgO(0 0 1) substrates epitaxially, (ii) consecutive thermal annealing incited the process of re-crystallization, which led to the substantial improvement of their crystalline quality. The restructuring proceeded in a non-linear way, indicating that an intricate structural evolution was triggered in the system. Based on the results of theX-ray diffraction and Rutherford backscattering/channeling, the effect of thermal processing on the structural transformation of the Ni/MgO(0 0 1) interface is discussed in this paper.
Název v anglickém jazyce
Epitaxial re-crystallization of the Ni/MgO(001) interfaces
Popis výsledku anglicky
Metal/ceramic interfaces have become important for advanced technologies in a variety of ways. To effectively tailor their properties, it is important to understand the mechanisms which govern the structural formation of the systems during deposition orpost-deposition processing. Here, results on epitaxial re-crystallization of the Ni/MgO(0 0 1) interfaces are reported: (i) as deposited, the Ni films were grown on the MgO(0 0 1) substrates epitaxially, (ii) consecutive thermal annealing incited the process of re-crystallization, which led to the substantial improvement of their crystalline quality. The restructuring proceeded in a non-linear way, indicating that an intricate structural evolution was triggered in the system. Based on the results of theX-ray diffraction and Rutherford backscattering/channeling, the effect of thermal processing on the structural transformation of the Ni/MgO(0 0 1) interface is discussed in this paper.
Klasifikace
Druh
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2004
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH
ISSN
0168-583X
e-ISSN
—
Svazek periodika
219
Číslo periodika v rámci svazku
20
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
867-870
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—
Základní informace
Druh výsledku
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Rok uplatnění
2004