Annealing of PEEK, PET and PI implanted with Co ions at high fluencies
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F13%3A00395266" target="_blank" >RIV/61389005:_____/13:00395266 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/60461373:22310/13:43896608 RIV/44555601:13440/13:43884923
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2012.11.078" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2012.11.078</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2012.11.078" target="_blank" >10.1016/j.nimb.2012.11.078</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Annealing of PEEK, PET and PI implanted with Co ions at high fluencies
Popis výsledku v původním jazyce
he properties of implanted polymers strongly depend on the implantation ion fluence and on the properties of the implanted atoms. The stability of synthesized nano-structures during further technological steps like annealing is of importance for their possible applications. Polyimide (PI), polyetheretherketone (PEEK), and polyethyleneterephtalate (PET) were implanted with 40 keV Co+ ions at room temperature at fluences ranging from 0.2 x 10(16) cm(-2) to 1.0 x 10(17) cm(-2) and annealed at a temperatureof 200 degrees C. The implanted depth profiles of as-implanted and annealed samples, determined by the RBS method, were compared with the results of SRIM 2012 simulations. The structural and compositional changes of the implanted and subsequently annealed polymers were characterized by RBS and UV-vis spectroscopy. The surface morphology of as-implanted and annealed samples was examined by the AFM method and their electrical properties by sheet resistance measurement.
Název v anglickém jazyce
Annealing of PEEK, PET and PI implanted with Co ions at high fluencies
Popis výsledku anglicky
he properties of implanted polymers strongly depend on the implantation ion fluence and on the properties of the implanted atoms. The stability of synthesized nano-structures during further technological steps like annealing is of importance for their possible applications. Polyimide (PI), polyetheretherketone (PEEK), and polyethyleneterephtalate (PET) were implanted with 40 keV Co+ ions at room temperature at fluences ranging from 0.2 x 10(16) cm(-2) to 1.0 x 10(17) cm(-2) and annealed at a temperatureof 200 degrees C. The implanted depth profiles of as-implanted and annealed samples, determined by the RBS method, were compared with the results of SRIM 2012 simulations. The structural and compositional changes of the implanted and subsequently annealed polymers were characterized by RBS and UV-vis spectroscopy. The surface morphology of as-implanted and annealed samples was examined by the AFM method and their electrical properties by sheet resistance measurement.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B
ISSN
0168-583X
e-ISSN
—
Svazek periodika
307
Číslo periodika v rámci svazku
7
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
598-602
Kód UT WoS článku
000321722200131
EID výsledku v databázi Scopus
—