Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Hradlo iontového svazku

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F13%3A00399685" target="_blank" >RIV/61389005:_____/13:00399685 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Hradlo iontového svazku

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Hradlo iontového svazku slouží k rychlému zamezení dopadu iontového svazku na vzorek v případě měření citlivých vzorků vychýlením svazku stranou. Toho se využívá například k zahrazení iontového svazku v intervalech, kdy je třeba vypnout svazek - tj. v čase mrtvé doby konvertoru, kdy spektroskopická trasa neregistruje impulsy a vzorek není dobré vystavovat nadměrné radiační zátěži, v době přejíždění svazku na novou počáteční polohu při mikroobrábění - jedná se o intervaly v řádu mikrosekund. Jedná se o zdroj impulzů plus a mínus sto voltů s velmi krátkou náběžnou a sestupnou hranou (menší než 0,2?s). V klidu je výstup přesně na nule. Impulzy mohou být libovolně dlouhé. Impulzy se přivádí na vychylovací desky. Při vychýlení neprochází svazek iontovodem,ale končí na clonách. Buzení: TTL signál.

  • Název v anglickém jazyce

    The gate of the ion beam

  • Popis výsledku anglicky

    The ion gate can quickly turn off the ion beam impinging on the sample in case of measurement of the radiation sensitive samples using ion beam deflection.. This is used for example to intercept the ion beam at the time, when the necessity of turn off the beam appears ? e.g. in the dead time of the converter, when the spectroscopic line is not able to register particles and the sample can not be overloaded by irradiation, in the time of the beam shifting to the new position during ion beam micro-machining. It is a source of pulses plus and minus one hundred volts with a very short rising and falling edge (less than 0.2 microseconds). Normally, the output is exactly at zero. Pulses can be of any length. The pulses are fed to the deflection plates. During the deflection the beam does not pass through the ion line but ends on the screens. Actuating: TTL signal.

Klasifikace

  • Druh

    G<sub>funk</sub> - Funkční vzorek

  • CEP obor

    BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Interní identifikační kód produktu

    TAND-F2

  • Číselná identifikace

  • Technické parametry

    info - Václav Kučírek

  • Ekonomické parametry

    Důležitá funkcionalita pro usnadnění ovládání iontového svazku v případě měření citlivých vzorků, kdy může docházet k postupné destrukci vzorku pod iontovým svazkem, velmi důležité pro sofistikovanou aplikaci ? iontové obrábění.

  • Kategorie aplik. výsledku dle nákladů

  • IČO vlastníka výsledku

    61389005

  • Název vlastníka

    Ústav jaderné fyziky AV ČR, v. v. i.

  • Stát vlastníka

    CZ - Česká republika

  • Druh možnosti využití

    P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence

  • Požadavek na licenční poplatek

    N - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek

  • Adresa www stránky s výsledkem