Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

SiC detectors for evaluation of laser-plasma dynamics employing gas-puff targets

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F19%3A00502235" target="_blank" >RIV/61389005:_____/19:00502235 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://doi.org/10.1016/j.nima.2018.12.086" target="_blank" >https://doi.org/10.1016/j.nima.2018.12.086</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2018.12.086" target="_blank" >10.1016/j.nima.2018.12.086</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    SiC detectors for evaluation of laser-plasma dynamics employing gas-puff targets

  • Popis výsledku v původním jazyce

    An Nd:YAG pulsed laser was employed to irradiate different gas-puff targets. The interaction gives rise to the emission of soft X-ray (SXR), ultraviolet and extreme ultraviolet (EUV) radiation useful for X-ray microscopy. A Silicon Carbide (SiC) and a Si detector were employed to characterize the photon plasma emission of different gases in different wavelength ranges. The EUV and SXR measurements with different filters show the applicability of SiC detectors for plasma monitoring and characterization. Detector linearity, plasma evolution over the time and the relative intensity signal of both detectors will be presented and discussed.

  • Název v anglickém jazyce

    SiC detectors for evaluation of laser-plasma dynamics employing gas-puff targets

  • Popis výsledku anglicky

    An Nd:YAG pulsed laser was employed to irradiate different gas-puff targets. The interaction gives rise to the emission of soft X-ray (SXR), ultraviolet and extreme ultraviolet (EUV) radiation useful for X-ray microscopy. A Silicon Carbide (SiC) and a Si detector were employed to characterize the photon plasma emission of different gases in different wavelength ranges. The EUV and SXR measurements with different filters show the applicability of SiC detectors for plasma monitoring and characterization. Detector linearity, plasma evolution over the time and the relative intensity signal of both detectors will be presented and discussed.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10304 - Nuclear physics

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GBP108%2F12%2FG108" target="_blank" >GBP108/12/G108: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů zářením</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2019

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A

  • ISSN

    0168-9002

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    922

  • Číslo periodika v rámci svazku

    4

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    7

  • Strana od-do

    250-256

  • Kód UT WoS článku

    000457980800032

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85060017359