High-Resolution Analysis Using Bent Perfect Crystal in Powder Diffraction: Part I

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F20%3A00534293" target="_blank" >RIV/61389005:_____/20:00534293 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="https://doi.org/10.1134/S1027451020070320" target="_blank" >https://doi.org/10.1134/S1027451020070320</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1134/S1027451020070320" target="_blank" >10.1134/S1027451020070320</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

High-Resolution Analysis Using Bent Perfect Crystal in Powder Diffraction: Part I

Popis výsledku v původním jazyce

Three-axis setup using a bent perfect crystal monochromator and analyzer was tested in the diffraction study of alpha-Fe(211) polycrystalline pins with diameters of 8 and 2 mm. After the optimal conditions were realized at a neutron wavelength of 0.162 nm, a high angular resolution was achieved up to FWHM (Delta d/d) = 4.7 x 10(-3)and 3.5 x 10(-3)for 8 and 2 mm pins, respectively, within the range of curvatures of the analyzer used. However, open beams were used, i.e., without Soller collimators. Such a diffraction setting can be used in powder diffraction studies, namely, in the analysis of small changes in the lattice parameters or small changes in the diffraction profile due to the application of an external load.

Název v anglickém jazyce

High-Resolution Analysis Using Bent Perfect Crystal in Powder Diffraction: Part I

Popis výsledku anglicky

Three-axis setup using a bent perfect crystal monochromator and analyzer was tested in the diffraction study of alpha-Fe(211) polycrystalline pins with diameters of 8 and 2 mm. After the optimal conditions were realized at a neutron wavelength of 0.162 nm, a high angular resolution was achieved up to FWHM (Delta d/d) = 4.7 x 10(-3)and 3.5 x 10(-3)for 8 and 2 mm pins, respectively, within the range of curvatures of the analyzer used. However, open beams were used, i.e., without Soller collimators. Such a diffraction setting can be used in powder diffraction studies, namely, in the analysis of small changes in the lattice parameters or small changes in the diffraction profile due to the application of an external load.

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2020

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Surface Investigation-X-Ray Synchrotron and Neutron Techniques

ISSN

1027-4510

e-ISSN

—

Svazek periodika

14

Číslo periodika v rámci svazku

SUPPL 1

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

146-150

Kód UT WoS článku

000578828100030

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85092422901