Novel x-ray optics with Si wafers and formed glass
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F06%3A00049936" target="_blank" >RIV/61389021:_____/06:00049936 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/67985815:_____/06:00049936
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Novel x-ray optics with Si wafers and formed glass
Popis výsledku v původním jazyce
The thermally formed thin glass foils and optically shaped Si wafers are considered to belong to the most promising technologies for future large space X-ray telescopes. We present and discuss the recent progress in these technologies, as well as properties of test mirrors produced and tested. For both technologies, both flat and curved samples have been produced and tested. The achieved profile accuracy is of order of 1 micrometer or better, while the bending technologies maintain the intrinsic fine surface microroughness of substrates (better than 0.5 nm for glass and around 0.1 nm for Si wafers).
Název v anglickém jazyce
Novel x-ray optics with Si wafers and formed glass
Popis výsledku anglicky
The thermally formed thin glass foils and optically shaped Si wafers are considered to belong to the most promising technologies for future large space X-ray telescopes. We present and discuss the recent progress in these technologies, as well as properties of test mirrors produced and tested. For both technologies, both flat and curved samples have been produced and tested. The achieved profile accuracy is of order of 1 micrometer or better, while the bending technologies maintain the intrinsic fine surface microroughness of substrates (better than 0.5 nm for glass and around 0.1 nm for Si wafers).
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BN - Astronomie a nebeská mechanika, astrofyzika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Space Telescopes and Instrumentation II: Ultraviolet to Gamma Ray
ISBN
0-8194-6331-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
12
Strana od-do
—
Název nakladatele
SPIE - International Society for Optical Engineering
Místo vydání
Bellingham
Místo konání akce
Orlando
Datum konání akce
24. 5. 2006
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000240015400045