Novel x-ray optics with Si wafers and formed glass

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F06%3A00167302" target="_blank" >RIV/68407700:21340/06:00167302 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Novel x-ray optics with Si wafers and formed glass

Popis výsledku v původním jazyce

The thermally formed thin glass foils and optically shaped Si wafers are considered to belong to the most promising technologies for future large space X-ray telescopes. We present and discuss the recent progress in these technologies, as well as properties of test mirrors produced and tested. For both technologies, both flat and curved samples have been produced and tested. The achieved profile accuracy is of order of 1 micrometer or better, while the bending technologies maintain the intrinsic fine surface microroughness of substrates (better than 0.5 nm for glass and around 0.1 nm for Si wafers).

Název v anglickém jazyce

Novel x-ray optics with Si wafers and formed glass

Popis výsledku anglicky

The thermally formed thin glass foils and optically shaped Si wafers are considered to belong to the most promising technologies for future large space X-ray telescopes. We present and discuss the recent progress in these technologies, as well as properties of test mirrors produced and tested. For both technologies, both flat and curved samples have been produced and tested. The achieved profile accuracy is of order of 1 micrometer or better, while the bending technologies maintain the intrinsic fine surface microroughness of substrates (better than 0.5 nm for glass and around 0.1 nm for Si wafers).

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2006

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Space Telescopes and Instrumentation II: Ultraviolet to Gamma Ray

ISBN

978-0-8194-6344-9

ISSN

0277-786X

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE

Místo vydání

Bellingham

Místo konání akce

Orlando

Datum konání akce

17. 4. 2006

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000240015400045