Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Losses in TiO2/SiO2 Multilayer Coatings

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F16%3A00469360" target="_blank" >RIV/61389021:_____/16:00469360 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2257232" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2257232</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2257232" target="_blank" >10.1117/12.2257232</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Losses in TiO2/SiO2 Multilayer Coatings

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper deals with optical losses in the coatings consisting of a combination of titanium dioxide (TiO2) and silicon dioxide (SiO2) layers evaporated by the ion beam assisted deposition (IBAD). This combination is commonly used for optical coatings as a standard choice for antireflective or any other optical filter in the visible and near IR range. Although the technology has been known for decades, we point out that some undescribed parasite losses can still appear and we show how to deal with them. In fact, in some cases, the losses made the target coating even inapplicable. In this paper we try to investigate the origin of the losses and we describe the deposition parameters which allow us to reduce or completely remove them. We determined whether the losses are proportional to the total thickness of the coating or to the number of layers. The influence of scattering was measured as well. Deposition parameters which were studied are the substrate temperature, discharge voltage of the assisting ion gun, oxygen flow of the assisting ion gun and the deposition rate, especially its starting curve. Influence of the post process annealing was studied as well. Starting curve of the deposition rate of SiO2 layer and the amount of oxygen flowing through the assisting ion gun were found as a crucial parameters.

  • Název v anglickém jazyce

    Losses in TiO2/SiO2 Multilayer Coatings

  • Popis výsledku anglicky

    This paper deals with optical losses in the coatings consisting of a combination of titanium dioxide (TiO2) and silicon dioxide (SiO2) layers evaporated by the ion beam assisted deposition (IBAD). This combination is commonly used for optical coatings as a standard choice for antireflective or any other optical filter in the visible and near IR range. Although the technology has been known for decades, we point out that some undescribed parasite losses can still appear and we show how to deal with them. In fact, in some cases, the losses made the target coating even inapplicable. In this paper we try to investigate the origin of the losses and we describe the deposition parameters which allow us to reduce or completely remove them. We determined whether the losses are proportional to the total thickness of the coating or to the number of layers. The influence of scattering was measured as well. Deposition parameters which were studied are the substrate temperature, discharge voltage of the assisting ion gun, oxygen flow of the assisting ion gun and the deposition rate, especially its starting curve. Influence of the post process annealing was studied as well. Starting curve of the deposition rate of SiO2 layer and the amount of oxygen flowing through the assisting ion gun were found as a crucial parameters.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JJ - Ostatní materiály

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LO1206" target="_blank" >LO1206: Moderní optické systémy a technologie</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of SPIE 10151, Optics and Measurement International Conference 2016

  • ISBN

    978-1-5106-0753-8

  • ISSN

    0277-786X

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    7

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    SPIE, Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers

  • Místo vydání

    Bellingham

  • Místo konání akce

    Liberec

  • Datum konání akce

    11. 10. 2016

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000393154700027