Large displacement and deformation measurement by frequency sweeping digital holography

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F17%3A00499428" target="_blank" >RIV/61389021:_____/17:00499428 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2292846" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2292846</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2292846" target="_blank" >10.1117/12.2292846</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Large displacement and deformation measurement by frequency sweeping digital holography

Popis výsledku v původním jazyce

Recently, a digital holographic method called Frequency Sweeping Digital Holography (FSDH) for high precision measurements of surface topography of mechanical parts has been introduced. The greatest advantage of the presented FSDH is the fact that the measurement is absolute. i.e. optical path difference is independently retrieved in every single pixel. This approach can therefore be used also for measurement of large displacements and deformation. FSDH is particularly suitable in cases where the common digital holographic methods fail due to e.g. 2π unambiguity problem or speckle decorrelation. Measurement method principles, setup details, an some features of the method are discussed.n

Název v anglickém jazyce

Large displacement and deformation measurement by frequency sweeping digital holography

Popis výsledku anglicky

Recently, a digital holographic method called Frequency Sweeping Digital Holography (FSDH) for high precision measurements of surface topography of mechanical parts has been introduced. The greatest advantage of the presented FSDH is the fact that the measurement is absolute. i.e. optical path difference is independently retrieved in every single pixel. This approach can therefore be used also for measurement of large displacements and deformation. FSDH is particularly suitable in cases where the common digital holographic methods fail due to e.g. 2π unambiguity problem or speckle decorrelation. Measurement method principles, setup details, an some features of the method are discussed.n

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

—

OECD FORD obor

20201 - Electrical and electronic engineering

Projekt

<a href="/cs/project/LO1206" target="_blank" >LO1206: Moderní optické systémy a technologie</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2017

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of SPIE

ISBN

978-1-5106-0754-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE: The Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers

Místo vydání

Bellingham

Místo konání akce

Praha

Datum konání akce

28. 8. 2017

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

000425429900011