Měření topografie povrchu metodou multivlnné interferometrie

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F18%3A00490542" target="_blank" >RIV/61389021:_____/18:00490542 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Měření topografie povrchu metodou multivlnné interferometrie
Popis výsledku v původním jazyce
Tento příspěvek se zabývá přesným měřením topografie povrchu funkčních skleněných a kovových komponent. Topografie vybraného vzorku byla analyzována metodou dvouvlnné interferometrie, specielně metodou dvouvlnné interferometrie s řízenou změnou fáze. Metoda měření vyniká aplikačním využitím s vysokou rychlostí měření, širokým zorným polem a vysokou přesností.
Název v anglickém jazyce
Surface topography measurement using multi-wavelength interferometry
Popis výsledku anglicky
This contribution deals with precise surface topography measurement of functional glass and metalic components. The topography of selected samples was analyzed with interferometric method especially dual-wavelength phase-shifting interferometry. This method excel with their wide field of application achieving high measurement speed, wide field of view and high precision.

Projekt
<a href="/cs/project/LO1206" target="_blank" >LO1206: Moderní optické systémy a technologie</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)