Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Runaway electron diagnostics using silicon strip detector

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389021%3A_____%2F20%3A00538151" target="_blank" >RIV/61389021:_____/20:00538151 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68407700:21340/20:00342613

  • Výsledek na webu

    <a href="https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/15/07/C07015/pdf" target="_blank" >https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/15/07/C07015/pdf</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/15/07/C07015" target="_blank" >10.1088/1748-0221/15/07/C07015</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Runaway electron diagnostics using silicon strip detector

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We present a proof-of-principle measurement of runaway electrons in a small tokamak using a silicon strip detector. The detector was placed inside the diagnostic port of the tokamak vessel and detected the runaway electron signal directly. The measured signal was compared to the signal provided by other tokamak diagnostics, especially the hard X-ray scintillation detector, which detects secondary photons created by interaction of accelerated electrons with tokamak walls (indirect detection of runaway electrons). The preliminary results show that when not saturated, direct detection with a segmented silicon strip detector provides promising new diagnostic information including spatial and temporal distribution of the runaway electron beam, and the measurement results are in good agreement with hard X-ray measurements with a scintillation detector.

  • Název v anglickém jazyce

    Runaway electron diagnostics using silicon strip detector

  • Popis výsledku anglicky

    We present a proof-of-principle measurement of runaway electrons in a small tokamak using a silicon strip detector. The detector was placed inside the diagnostic port of the tokamak vessel and detected the runaway electron signal directly. The measured signal was compared to the signal provided by other tokamak diagnostics, especially the hard X-ray scintillation detector, which detects secondary photons created by interaction of accelerated electrons with tokamak walls (indirect detection of runaway electrons). The preliminary results show that when not saturated, direct detection with a segmented silicon strip detector provides promising new diagnostic information including spatial and temporal distribution of the runaway electron beam, and the measurement results are in good agreement with hard X-ray measurements with a scintillation detector.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA18-02482S" target="_blank" >GA18-02482S: Radiační procesy generované ubíhajícími elektrony v tokamacích</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2020

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Instrumentation

  • ISSN

    1748-0221

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    15

  • Číslo periodika v rámci svazku

    7

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    9

  • Strana od-do

    C07015

  • Kód UT WoS článku

    000551901300015

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85088038025