Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Possibilities of FEM Applied in the Verification of X-Ray Measurement

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27230%2F11%3A86076095" target="_blank" >RIV/61989100:27230/11:86076095 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Possibilities of FEM Applied in the Verification of X-Ray Measurement

  • Popis výsledku v původním jazyce

    For subsurface stress profiling, the destructive diffraction X-ray analysis can be performed by sequentially removing surface layers by using electrolytic or chemical polishing. When stressed layers are removed, the measured stress values in depths beneath the surface are in general affected by the relaxation created due to the layer removal. Therefore a correction should be involved in the depth profiling procedure. Accepted procedures used till now presume the removal of the whole surface of the investigated laboratory samples. The aim of the contribution is to present the possibilities of FEM for evaluation of the credibility of X-ray stress-strain states measurements. An estimation of changes of depth distribution due to the stress relaxation created by the removed layers was simulated by FEM in the case of a small electrolytically polished area 12 mm in diameter in the middle of cylindrical samples of the height of 7 mm.

  • Název v anglickém jazyce

    Possibilities of FEM Applied in the Verification of X-Ray Measurement

  • Popis výsledku anglicky

    For subsurface stress profiling, the destructive diffraction X-ray analysis can be performed by sequentially removing surface layers by using electrolytic or chemical polishing. When stressed layers are removed, the measured stress values in depths beneath the surface are in general affected by the relaxation created due to the layer removal. Therefore a correction should be involved in the depth profiling procedure. Accepted procedures used till now presume the removal of the whole surface of the investigated laboratory samples. The aim of the contribution is to present the possibilities of FEM for evaluation of the credibility of X-ray stress-strain states measurements. An estimation of changes of depth distribution due to the stress relaxation created by the removed layers was simulated by FEM in the case of a small electrolytically polished area 12 mm in diameter in the middle of cylindrical samples of the height of 7 mm.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JL - Únava materiálu a lomová mechanika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    V - Vyzkumna aktivita podporovana z jinych verejnych zdroju

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Modern Machinery Science Journal

  • ISSN

    1803-1269

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    1

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    41-42

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus