Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Artificial bee colony algorithm for small signal model parameter extraction of MESFET

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27240%2F10%3A86075425" target="_blank" >RIV/61989100:27240/10:86075425 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Artificial bee colony algorithm for small signal model parameter extraction of MESFET

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper presents an application of swarm intelligence technique namely artificial bee colony (ABC) to extract the small signal equivalent circuit model parameters of GaAs metal extended semiconductor field effect transistor (MESFET) device and compares its performance with particle swarm optimization (PSO) algorithm. Parameter extraction in MESFET process involves minimizing the error, which is measured as the difference between modeled and measured S parameter over a broad frequency range. This error surface is viewed as a multi-modal error surface and robust optimization algorithms are required to solve this kind of problem.

  • Název v anglickém jazyce

    Artificial bee colony algorithm for small signal model parameter extraction of MESFET

  • Popis výsledku anglicky

    This paper presents an application of swarm intelligence technique namely artificial bee colony (ABC) to extract the small signal equivalent circuit model parameters of GaAs metal extended semiconductor field effect transistor (MESFET) device and compares its performance with particle swarm optimization (PSO) algorithm. Parameter extraction in MESFET process involves minimizing the error, which is measured as the difference between modeled and measured S parameter over a broad frequency range. This error surface is viewed as a multi-modal error surface and robust optimization algorithms are required to solve this kind of problem.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    IN - Informatika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2010

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    ENGINEERING APPLICATIONS OF ARTIFICIAL INTELLIGENCE

  • ISSN

    0952-1976

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    23

  • Číslo periodika v rámci svazku

    5

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000279060300006

  • EID výsledku v databázi Scopus