Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Magneto-optická ellipsometrie systémů obsahujících tlusté vrstvy

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27350%2F04%3A00011074" target="_blank" >RIV/61989100:27350/04:00011074 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Magneto-optical ellipsometry of systems containing thick layers

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A recurrent matrix method for description and modeling of light reflection and transmission by an anisotropic multilayer system consisting of thin and thick magnetooptic (MO) layers is proposed. Light interference in thin MO film is described by an amplitude-based Jones matrix formalism. For description of intensity summation in thick MO layers we propose using 4x4 coherence transforming matrices relating coherence vectors. The MO ellipsometry angles rotation and ellipticity are expressed in terms of the matrix components. Effects of partial coherence to reflection and transmission ellipsometry are discussed. Simplification of the general formalism is presented for the normal incidence polar MO geometry

  • Název v anglickém jazyce

    Magneto-optical ellipsometry of systems containing thick layers

  • Popis výsledku anglicky

    A recurrent matrix method for description and modeling of light reflection and transmission by an anisotropic multilayer system consisting of thin and thick magnetooptic (MO) layers is proposed. Light interference in thin MO film is described by an amplitude-based Jones matrix formalism. For description of intensity summation in thick MO layers we propose using 4x4 coherence transforming matrices relating coherence vectors. The MO ellipsometry angles rotation and ellipticity are expressed in terms of the matrix components. Effects of partial coherence to reflection and transmission ellipsometry are discussed. Simplification of the general formalism is presented for the normal incidence polar MO geometry

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2004

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Thin Solid Films

  • ISSN

    0040-6090/04

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    Neuveden

  • Číslo periodika v rámci svazku

    455-456

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    615-618

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus