Spectral interferometry and reflectometry used for characterization of a multilayer mirror

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27350%2F09%3A00021681" target="_blank" >RIV/61989100:27350/09:00021681 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Spectral interferometry and reflectometry used for characterization of a multilayer mirror
Popis výsledku v původním jazyce
A white-light spectral interferometric technique is used to retrieve a relative spectral phase and group delay of a multilayer mirror from the spectral interferograms recorded in a dispersive Michelson interferometer. The phase retrieval is based on theuse of a windowed Fourier transform in the wavelength domain, and characterization of the multilayer mirror is completed by a three-step measurement of the reflectance spectrum of the mirror in the same interferometer.
Název v anglickém jazyce
Spectral interferometry and reflectometry used for characterization of a multilayer mirror
Popis výsledku anglicky
A white-light spectral interferometric technique is used to retrieve a relative spectral phase and group delay of a multilayer mirror from the spectral interferograms recorded in a dispersive Michelson interferometer. The phase retrieval is based on theuse of a windowed Fourier transform in the wavelength domain, and characterization of the multilayer mirror is completed by a three-step measurement of the reflectance spectrum of the mirror in the same interferometer.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—

Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)