The analysis of the fitness of the Stresstech Microscan 500 device to the study of Barkhausen noise

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27360%2F13%3A86087943" target="_blank" >RIV/61989100:27360/13:86087943 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

slovinština

Název v původním jazyce

ANALÝZA VHODNOSTI PRÍSTROJA STRESSTECH MICROSCAN 500 NA ŠTÚDIUM BARKHAUSENOVHO ŠUMU

Popis výsledku v původním jazyce

Meranie Barkhausenovho šumu (BŠ) sa v strojárstve využíva ako rýchla, jednoduchá a spoľahlivá metóda na získavanie informácií o vlastnostiach opracovaných povrchov. Na základe jeho veľkosti je možné odhaliť skryté vady a vyčleniť tak zlé výrobky počas výroby. Prístroj Microscan 500 od firmy StressTech je jeden z najrozšírenejších prístrojov na meranie BŠ v priemyselných aplikáciách. Problémom je, že namerané priebehy získané týmto prístrojom sú zaťažené rôznymi druhmi neužitočných signálov, najmä vibrácií, šumov a systematických chýb prístroja. Naším prínosom je metóda spracovania BŠ založená na rozklade nameraných priebehov na jednotlivé zložky. Skúmaním týchto zložiek sú analyzované vlastnosti samotného prístroja. Na základe získaných poznatkov je možné nájsť optimalizovať experimentálne podmienky tak, aby boli výsledky čo najmenej zaťažené nežiaducimi javmi. Numerické korekcie hardvérových nedostatkov prístroja umožňujú jeho použitie aj pre vedecké účely.

Název v anglickém jazyce

The analysis of the fitness of the Stresstech Microscan 500 device to the study of Barkhausen noise

Popis výsledku anglicky

Barkhausen noise measurement ( BS) in engineering industry used as a quick , simple and reliable method for obtaining information on the properties of machined surfaces . Based on its size , it is possible to uncover hidden defects and thus allocate badproducts during production . The Microscan Stresstech 500 device is one of the most widely used instruments for measuring a BS in industrial applications . The problem is that the measured waveforms obtained by this device are loaded with different kindsof useless signals, especially vibration, noise and systematic errors of the instrument. Our contribution is about the BS processing method based on the decomposition of measured data on the individual components . By examining these components the properties of the device are analysed. Based on these results it can be found to optimize the experimental conditions so that the results are the least affected by undesirable phenomena. The numerical corrections of the device hardware defici

Druh

O - Ostatní výsledky

CEP obor

JB - Senzory, čidla, měření a regulace

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

V - Vyzkumna aktivita podporovana z jinych verejnych zdroju

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů