Způsob měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí a zařízení pro provádění tohoto způsobu měření

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F17%3A73586551" target="_blank" >RIV/61989592:15310/17:73586551 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/306/306726.pdf" target="_blank" >http://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/306/306726.pdf</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Způsob měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí a zařízení pro provádění tohoto způsobu měření

Popis výsledku v původním jazyce

Způsob měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí je založen na porovnávacím měření na děliči napětí a synchronizaci měřících pulzů s periodickým sinusoidálním průběhem interference, kdy na testovaný povrch dielektrika je přivedeno napětí o určených parametrech pravoúhlého impulzu, přičemž na děliči napětí vytvořeném z měřeného povrchu dielektrika a rezistoru o zvolené hodnotě odporu je vzorkován potenciál v určitých časových intervalech jednak před vložením měřícího pulzu a jednak těsně před jeho koncem, kdy poté na základě rozdílu naměřených hodnot pomocí diferenčního zesilovače je získána hodnota odpovídající hodnotě naměřené bez vlivu elektromagnetické interference 50 Hz, kde výsledkem je umožnění naměření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti povrchu dielektrika. Zařízení pro měření rychlých změn nízkých hodnot povrchové vodivosti dielektrik v prostředí elektromagnetické interference síťového napětí obsahuje snímací prvek (1) sledování elektromagnetické interference na nějž je zapojen blok (2) sledování elektromagnetické interference, na jehož první výstup je připojen komparační blok (3) pro řízení vytváření časových sekvencí a blok (4) vytváření pulzů, jehož výstup pravoúhlého pulzu 1ms/±5 V, dále první výstup 10 µs/±5 V a druhý výstup 10 µs/±5 V jsou propojeny na jednotlivé vstupy bloku (6) logických členů, přičemž další výstup bloku (2) sledování elektromagnetické interference je propojen na komparační člen (5), jehož výstup je propojen na čtvrtý vstup bloku (6) logických členů, přičemž první výstup bloku (6) logických členů je propojen přes blok (7) modulace pulzů s výstupem pulz 0 až 300 mV na zkoumaný povrch v bloku (8) děliče napětí povrch/rezistor děliče, kde výstup z tohoto bloku (8) děliče napětí povrch/rezistor děliče je propojen přes blok (11) sledovače napětí na děliči s velmi vysokou vstupní impedancí na signálové vstupy prvního sample-and-hold zesilovače (9) a druhého sample-and-hold zesilovače (10), přičemž druhý vstup pro řízení vzorkování prvního sample-and-hold zesilovače (9) a druhý vstup pro řízení vzorkování druhého sample-and-hold zesilovače (10) jsou propojeny s odpovídajícími výstupy pro řízení vzorkování bloku (6) logických členů, přičemž výstup prvního sample-and-hold zesilovače (9) je propojen přes blok (12) dvou sériově zapojených invertujících zesilovačů na invertující vstup diferenčního zesilovače (13), na jehož neinvertující vstup je připojen výstup druhého sample-and-hold zesilovače (10), přičemž diferenční zesilovač (13) je přes blok (14) eliminace náhodného kolísání signálu a výstupní blok (15) s nízkou impedancí propojen s výstupem zařízení.

Název v anglickém jazyce

Method for measuring quick changes in low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage and equipment to perform this type of measurement

Popis výsledku anglicky

This drawback is removed when such measurement of quick changes of low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage is used that is based on measurement a comparison measurement on the voltage divider and synchronisation of measuring pulses with periodic sinusoidal interference curve when voltage with predetermined parameters of square pulse is applied on the tested surface of dielectric, and the potential on the voltage divider that consists of the tested surface of dielectric and a resistor with preselected resistivity is sampled in certain time intervals both before application of the measuring pulse and just before its end, and then the value corresponding to the value measured without effect of the electromagnetic interference 60 Hz EMI is acquired based on difference of quantities measured with the differential amplifier where the result is the determination of quick changes of low surface conductivity of dielectric surface. It is advantageous when the measuring pulses are voltage ones with parameters of square pulse with duration 1 ms in each positive semi-period 60 Hz EMI. The above drawback addressed through measurement of quick changes of low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage has been removed using equipment for measurement of quick changes of low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage based on measurement of quick changes of low surface conductivity of dielectrics, that is based on the fact that a block for monitoring electromagnetic interference is connected to the sensing element for monitoring of electromagnetic interference, and the first output of the block is connected to a comparative block for control of generation of time sequences and to a block for generation of pulses that produces square pulses 1ms/±5 V, then the first output 10 µs/±5 V and the second output 10 µs/±5 V are connected to the inputs of the block of logic elements, and another output of the block for monitoring electromagnetic interference is connected to a comparator the output of which is connected to the fourth input of the block of logic elements, and the first output of the block of logic elements is connected through a modulation block with output pulse 0 to 300 mV to the tested surface in the block of the voltage divider surface/resistor of the divider where output from this block of the voltage divider surface/resistor of the divider is connected through a voltage follower with very high input impedance to signal inputs of the first sample-and-hold amplifier and of the second sample-and-hold amplifier where the second input for control of sampling of the first sample-and-hold amplifier and the second input for control of sampling of the second sample-and-hold amplifier are connected with corresponding outputs for control of sampling of the block of logic elements where the output of the first sample-and-hold amplifier is connected through the first inverting amplifier and the second inverting amplifier to the inverting input of the differential amplifier, an output of the second sample-and-hold amplifier is connected to its non-inverting input, and the differential amplifier is connected to the output of the equipment through a low past filter to eliminate accidental fluctuations of the signal. It is advantageous when the sensing element is a resistor connected to the input of the block monitoring electromagnetic interference, and possibly it is advantageous when the sensing element is a transformer connected with its primary winding to the mains voltage while the secondary winding is connected with one terminal to earthing of the equipment and with the other terminal to the input of the block monitoring electromagnetic interference. It is also advantageous when the equipment for the measurement of quick changes of low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage is solved using interconnection of specific electronic and electrotechnical elements, as presented in Fig. 5. The device proposed (DP) for the measurement of quick changes of low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage allows to register changes in low surface conductivity of dielectrics with high sensitivity using voltage pulses of low amplitude and, at the same time, with quick response also under conditions of electromagnetic interference with line voltage frequency 60 Hz.

Druh

P - Patent

CEP obor

—

OECD FORD obor

10406 - Analytical chemistry

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2017

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Číslo patentu nebo vzoru

306726

Vydavatel

CZ001 -

Název vydavatele

Industrial Property Office

Místo vydání

Prague

Stát vydání

CZ - Česká republika

Datum přijetí

12. 4. 2017

Název vlastníka

Univerzita Palackého v Olomouci

Způsob využití

A - Výsledek využívá pouze poskytovatel

Druh možnosti využití

A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence