Method for measuring quick changes in low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage and equipment to perform this type of measurement
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F19%3A73598153" target="_blank" >RIV/61989592:15310/19:73598153 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://patentscope.wipo.int/search/en/detail.jsf?docId=US209523301&tab=NATIONALBIBLIO&_cid=P11-K5YAKE-71527-1" target="_blank" >https://patentscope.wipo.int/search/en/detail.jsf?docId=US209523301&tab=NATIONALBIBLIO&_cid=P11-K5YAKE-71527-1</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Method for measuring quick changes in low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage and equipment to perform this type of measurement
Popis výsledku v původním jazyce
The method of measuring guick changes of low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage is based on a comparison measurement on a voltage divider and synchronization of measuring pulses with periodic sinusoidal course of interference when voltage with pre-set parameters of sguare pulse is brought to the tested dielectric surface and potential is sampled in the voltage divider consisting of the measured dielectric surface and a resistor with preselected resitivity in certain time intervals both before application of the measuring pulse and immediately before its end, and then based on a difference between the values measured without effect of electromagnetic interference 60 Hz is derived and the reslut is the possibility to measure quick changes of low surface conductivity of dielectric surface.
Název v anglickém jazyce
Method for measuring quick changes in low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage and equipment to perform this type of measurement
Popis výsledku anglicky
The method of measuring guick changes of low surface conductivity of dielectrics under electromagnetic interference of line voltage is based on a comparison measurement on a voltage divider and synchronization of measuring pulses with periodic sinusoidal course of interference when voltage with pre-set parameters of sguare pulse is brought to the tested dielectric surface and potential is sampled in the voltage divider consisting of the measured dielectric surface and a resistor with preselected resitivity in certain time intervals both before application of the measuring pulse and immediately before its end, and then based on a difference between the values measured without effect of electromagnetic interference 60 Hz is derived and the reslut is the possibility to measure quick changes of low surface conductivity of dielectric surface.
Klasifikace
Druh
P - Patent
CEP obor
—
OECD FORD obor
10406 - Analytical chemistry
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/EF16_019%2F0000754" target="_blank" >EF16_019/0000754: Nanotechnologie pro budoucnost</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2019
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Číslo patentu nebo vzoru
US10317450
Vydavatel
US001 -
Název vydavatele
United States Patent and Trademark Office (USPTO)
Místo vydání
Alexandria
Stát vydání
US - Spojené státy americké
Datum přijetí
11. 6. 2019
Název vlastníka
Universita Palackého v Olomouci
Způsob využití
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Druh možnosti využití
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence