A Compound MRF Texture Model
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985556%3A_____%2F10%3A00346562" target="_blank" >RIV/67985556:_____/10:00346562 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
A Compound MRF Texture Model
Popis výsledku v původním jazyce
This paper describes a novel compound Markov random field model capable of realistic modelling of multispectral bidirectional texture function, which is currentl the most advanced representation of visual properties of surface materials. The proposed compound Markov random field model combines a non-parametric control random field with analytically solvable widesense Markov representation for single regions and thus allows to avoid demanding Markov Chain Monte Carlo methods for both parameters estimation and the compound random field synthesis.
Název v anglickém jazyce
A Compound MRF Texture Model
Popis výsledku anglicky
This paper describes a novel compound Markov random field model capable of realistic modelling of multispectral bidirectional texture function, which is currentl the most advanced representation of visual properties of surface materials. The proposed compound Markov random field model combines a non-parametric control random field with analytically solvable widesense Markov representation for single regions and thus allows to avoid demanding Markov Chain Monte Carlo methods for both parameters estimation and the compound random field synthesis.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BD - Teorie informace
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
20th International Conference on Pattern Recognition
ISBN
978-1-4244-7542-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
IEEE Computer Society CPS
Místo vydání
Los Alamitos
Místo konání akce
Istanbul
Datum konání akce
23. 8. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—