Electrical properties of nanoscale p-n heterojunctions formed between a single ZnO nanorod and GaN substrate
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985882%3A_____%2F20%3A00538001" target="_blank" >RIV/67985882:_____/20:00538001 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1016/j.mssp.2019.104808" target="_blank" >https://doi.org/10.1016/j.mssp.2019.104808</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.mssp.2019.104808" target="_blank" >10.1016/j.mssp.2019.104808</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Electrical properties of nanoscale p-n heterojunctions formed between a single ZnO nanorod and GaN substrate
Popis výsledku v původním jazyce
We study electronic transport in single vertically oriented n-type ZnO nanorods on p-type GaN substrates using a nanoprobe in a scanning electron microscope. The ZnO nanorods are prepared by chemical bath deposition on both plain GaN substrates and the substrates locally modified by focused ion beam. The heterojunctions on focused ion beam-modified substrates show rectifying current-voltage characteristics, while the characteristics of the plain structures are symmetrical. Adsorption/desorption processes on the surface of ZnO nanorods strongly affect their electrical properties. We demonstrate that the electronic transport in the nanorods grown on focused ion beam-modified substrates is less sensitive to adsorption/desorption processes, which is related to their uniform nucleation and higher crystalline quality
Název v anglickém jazyce
Electrical properties of nanoscale p-n heterojunctions formed between a single ZnO nanorod and GaN substrate
Popis výsledku anglicky
We study electronic transport in single vertically oriented n-type ZnO nanorods on p-type GaN substrates using a nanoprobe in a scanning electron microscope. The ZnO nanorods are prepared by chemical bath deposition on both plain GaN substrates and the substrates locally modified by focused ion beam. The heterojunctions on focused ion beam-modified substrates show rectifying current-voltage characteristics, while the characteristics of the plain structures are symmetrical. Adsorption/desorption processes on the surface of ZnO nanorods strongly affect their electrical properties. We demonstrate that the electronic transport in the nanorods grown on focused ion beam-modified substrates is less sensitive to adsorption/desorption processes, which is related to their uniform nucleation and higher crystalline quality
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2020
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Materials Science in Semiconductor Processing
ISSN
1369-8001
e-ISSN
—
Svazek periodika
107
Číslo periodika v rámci svazku
1 March
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
104808
Kód UT WoS článku
000505017100013
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85074342993