Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

The structural studies and optical characteristics of phase-segregated Ir-doped LuFeO3-delta films

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081723%3A_____%2F23%3A00570601" target="_blank" >RIV/68081723:_____/23:00570601 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/00216305:26620/23:PU148607

  • Výsledek na webu

    <a href="https://link.springer.com/article/10.1007/s00339-023-06486-4" target="_blank" >https://link.springer.com/article/10.1007/s00339-023-06486-4</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1007/s00339-023-06486-4" target="_blank" >10.1007/s00339-023-06486-4</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    The structural studies and optical characteristics of phase-segregated Ir-doped LuFeO3-delta films

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this work, we carefully examined how Ir substitution into Fe sites can change the band of the LuFeO3 (LFO) material. LFO and Ir-doped LFO (LuFe1-xIrxO3 or LFIO for short, where x = 0.05 and 0.10) thin films were synthesized by utilizing magnetron sputtering techniques. The films were grown on silicon and indium tin oxide (ITO) substrates at 500 degrees C. The crystallographic orientation of the films was examined using X-ray diffraction (XRD) analysis. The crystallographic orientation of the thin films was examined using an X-ray diffractometer (XRD). For surface topography research, atomic force microscopy (AFM) was employed. To look for the recombination of photogenerated electron-hole pairs in the materials under investigation, photoluminescence (PL) spectroscopy was used. Raman spectroscopy is then utilized to gather data on crystal symmetry as well as disorders and defects in the oxide materials. It was demonstrated that the LFO band gap was altered from 2.35 to 2.72 eV by Ir substitution into Fe sites. Moreover, diffuse reflectance spectroscopy (DRS) was used to analyze conductivity, real and imaginary components of the dielectric constant, refractive index (n), extinction coefficient (k), and reflectance percentage.

  • Název v anglickém jazyce

    The structural studies and optical characteristics of phase-segregated Ir-doped LuFeO3-delta films

  • Popis výsledku anglicky

    In this work, we carefully examined how Ir substitution into Fe sites can change the band of the LuFeO3 (LFO) material. LFO and Ir-doped LFO (LuFe1-xIrxO3 or LFIO for short, where x = 0.05 and 0.10) thin films were synthesized by utilizing magnetron sputtering techniques. The films were grown on silicon and indium tin oxide (ITO) substrates at 500 degrees C. The crystallographic orientation of the films was examined using X-ray diffraction (XRD) analysis. The crystallographic orientation of the thin films was examined using an X-ray diffractometer (XRD). For surface topography research, atomic force microscopy (AFM) was employed. To look for the recombination of photogenerated electron-hole pairs in the materials under investigation, photoluminescence (PL) spectroscopy was used. Raman spectroscopy is then utilized to gather data on crystal symmetry as well as disorders and defects in the oxide materials. It was demonstrated that the LFO band gap was altered from 2.35 to 2.72 eV by Ir substitution into Fe sites. Moreover, diffuse reflectance spectroscopy (DRS) was used to analyze conductivity, real and imaginary components of the dielectric constant, refractive index (n), extinction coefficient (k), and reflectance percentage.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LM2018110" target="_blank" >LM2018110: Výzkumná infrastruktura CzechNanoLab</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2023

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Physics A - Materials Science & Processing

  • ISSN

    0947-8396

  • e-ISSN

    1432-0630

  • Svazek periodika

    129

  • Číslo periodika v rámci svazku

    3

  • Stát vydavatele periodika

    DE - Spolková republika Německo

  • Počet stran výsledku

    14

  • Strana od-do

    198

  • Kód UT WoS článku

    000935899600001

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85148488069