Combined scintillation and ionisation detectors for environmental scanning electron microscopes.

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F00%3A12000025" target="_blank" >RIV/68081731:_____/00:12000025 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Combined scintillation and ionisation detectors for environmental scanning electron microscopes.

Popis výsledku v původním jazyce

One of the recent directions in the field of scanning electron microscopy deals with observation of specimens at higher pressures in the specimen chamber. Owing to the presence of the gaseous medium, charging effects are suppressed for specimens of insulation character, and at the same time the observation of biological specimens without their prior treatment is made possible. The constructed combined scintillation and ionisation detector extends the applications of these microscopes and enables copmarison of behaviour and properties of both detectors.

Název v anglickém jazyce

Combined scintillation and ionisation detectors for environmental scanning electron microscopes.

Popis výsledku anglicky

One of the recent directions in the field of scanning electron microscopy deals with observation of specimens at higher pressures in the specimen chamber. Owing to the presence of the gaseous medium, charging effects are suppressed for specimens of insulation character, and at the same time the observation of biological specimens without their prior treatment is made possible. The constructed combined scintillation and ionisation detector extends the applications of these microscopes and enables copmarison of behaviour and properties of both detectors.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F00%2F0969" target="_blank" >GA102/00/0969: Vývoj a prezentace moderních technologií pro inovaci a servis elektronických systémů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2000

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy.

ISBN

80-238-5503-4

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

—

Název nakladatele

Czechoslovak Society for Electron Microscopy

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

—

Datum konání akce

—

Typ akce podle státní příslušnosti

—

Kód UT WoS článku

—