Ultrahigh vacuum scanning low energy electron microscope (UHV SLEEM) for surface studies.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F02%3A12020037" target="_blank" >RIV/68081731:_____/02:12020037 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Ultrahigh vacuum scanning low energy electron microscope (UHV SLEEM) for surface studies.
Popis výsledku v původním jazyce
The aim of project is to study clean and well-defined surfaces via interaction of electrons at energies from 0 to 25 keV with a high spatial resolution. During the period 1995-2001 we have built an Ultrahigh Vacuum Scanning Low Energy Electron Microscopefor surface studies. The image resolution below 50 nm can be achieved at 10 eV. The residual pressure in the specimen vicinity is 10.sup.-10./sup. mbar. The paper briefly describes main parameters of the instrument.
Název v anglickém jazyce
Ultrahigh vacuum scanning low energy electron microscope (UHV SLEEM) for surface studies.
Popis výsledku anglicky
The aim of project is to study clean and well-defined surfaces via interaction of electrons at energies from 0 to 25 keV with a high spatial resolution. During the period 1995-2001 we have built an Ultrahigh Vacuum Scanning Low Energy Electron Microscopefor surface studies. The image resolution below 50 nm can be achieved at 10 eV. The residual pressure in the specimen vicinity is 10.sup.-10./sup. mbar. The paper briefly describes main parameters of the instrument.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/IAA1065901" target="_blank" >IAA1065901: Vlnově optické kontrasty v rastrovacím elektronovém mikroskopu</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the 2nd annual meeting of the Czechoslovak microscopy society.
ISBN
80-238-8749-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
79-82
Název nakladatele
CSMS
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Vranovská Ves [CZ]
Datum konání akce
8. 2. 2002
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—