Závislost kontrastu na tlaku u segmentového ionizačního detektoru v ESEM

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109025" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109025 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Dependence of contrast on pressure using segmental ionization detector in environmental SEM

Popis výsledku v původním jazyce

An ionization detector is often used for the detection of signal electrons in environmental scanning electron microscope (ESEM). This detector is based on the principle of signal electron amplification by the process of impact ionization in the specimenchamber with a gaseous environment. The grounded specimen forms one electrode of the parallel electrode detection system. The second electrode is placed above the specimen, and it is connected to the appropriate potential that causes impact ionization ofsecondary electrons. A hole in the upper electrode allows primary electrons to pass to the specimen and this electrode also detects amplified signal electrons

Název v anglickém jazyce

Dependence of contrast on pressure using segmental ionization detector in environmental SEM

Popis výsledku anglicky

An ionization detector is often used for the detection of signal electrons in environmental scanning electron microscope (ESEM). This detector is based on the principle of signal electron amplification by the process of impact ionization in the specimenchamber with a gaseous environment. The grounded specimen forms one electrode of the parallel electrode detection system. The second electrode is placed above the specimen, and it is connected to the appropriate potential that causes impact ionization ofsecondary electrons. A hole in the upper electrode allows primary electrons to pass to the specimen and this electrode also detects amplified signal electrons

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/IBS2065107" target="_blank" >IBS2065107: Rastrovací elektronová mikroskopie pro výzkum struktury vlhkých materiálů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

341-342

Název nakladatele

Belgian Society for Microscopy

Místo vydání

Liege

Místo konání akce

Antwerp

Datum konání akce

22. 8. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—