Scintillation secondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F09%3A00335266" target="_blank" >RIV/68081731:_____/09:00335266 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26220/09:PU81811

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Scintillation secondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope

Popis výsledku v původním jazyce

Detection of signal electrons at a higher pressure in the specimen chamber is commonly based on ionization and scintillation type of detectors. At the ionization detector secondary and backscattered electrons are amplified in the process of impact ionization of these electrons with atoms and molecules of gases in the specimen chamber. Electrons are subsequently detected by an electrode system of the detector. Voltage up to several hundred volts is added to the electrodes of the detector to give to secondary electrons and to electrons produced at ionization collisions sufficient energy needed for ionization of gases. Last versions of this detector utilize also magnetic field and detect preferentially secondary electrons.

Název v anglickém jazyce

Scintillation secondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope

Popis výsledku anglicky

Detection of signal electrons at a higher pressure in the specimen chamber is commonly based on ionization and scintillation type of detectors. At the ionization detector secondary and backscattered electrons are amplified in the process of impact ionization of these electrons with atoms and molecules of gases in the specimen chamber. Electrons are subsequently detected by an electrode system of the detector. Voltage up to several hundred volts is added to the electrodes of the detector to give to secondary electrons and to electrons produced at ionization collisions sufficient energy needed for ionization of gases. Last versions of this detector utilize also magnetic field and detect preferentially secondary electrons.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy

ISBN

978-3-85125-062-6

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

—

Název nakladatele

Verlag der Technischen Universität

Místo vydání

Graz

Místo konání akce

Graz

Datum konání akce

30. 8. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—