Interferometrie s technikou rychlého přelaďovaní vlnové délky a derivační detekcí signálů v kvadratuře
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F06%3A00053538" target="_blank" >RIV/68081731:_____/06:00053538 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Fast wavelength-scanning interferometry technique with derivative detection of quadrature signals
Popis výsledku v původním jazyce
We present a laser interferometer where a narrow-line width tuneable VCSEL laser (Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser) working at 760 nm is used. For the detection of an absolute distance, we have used a fast wavelength-scanning interferometry technique. In the first part of the work we introduce the absolute laser interferometer as a demonstrator for research of a digital detection of quadrature signals (X-cos and Y-sin). The other part of the work is oriented to research and experimental testing ofthe digital detection of quadrature signals (X-cos and Y-sin) processed only on basis of one intensity signal (X-axis) that is produced by a simple photo-detector. The first introduction of the method and measured records are presented.
Název v anglickém jazyce
Fast wavelength-scanning interferometry technique with derivative detection of quadrature signals
Popis výsledku anglicky
We present a laser interferometer where a narrow-line width tuneable VCSEL laser (Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser) working at 760 nm is used. For the detection of an absolute distance, we have used a fast wavelength-scanning interferometry technique. In the first part of the work we introduce the absolute laser interferometer as a demonstrator for research of a digital detection of quadrature signals (X-cos and Y-sin). The other part of the work is oriented to research and experimental testing ofthe digital detection of quadrature signals (X-cos and Y-sin) processed only on basis of one intensity signal (X-axis) that is produced by a simple photo-detector. The first introduction of the method and measured records are presented.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/IAB2065001" target="_blank" >IAB2065001: Laserová interferometrie s přeladitelným polovodičovým laserem</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of SPIE (Vol. 6188) Optical Micro- and Nanometrology in Microsystems Technology
ISBN
9780819462442
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
—
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Bellingham
Místo konání akce
Strasbourg
Datum konání akce
5. 3. 2006
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—