Vývoj programu EOD pro návrh elektronově optických zařízení
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00086239" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00086239 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The development of EOD program for the design of electron optical devices
Popis výsledku v původním jazyce
The paper gives an overview of recent development of program EOD and its application in the design of electron microscopes. The use of the program is illustrated on the computations of detectors in scanning electron microscopy.
Název v anglickém jazyce
The development of EOD program for the design of electron optical devices
Popis výsledku anglicky
The paper gives an overview of recent development of program EOD and its application in the design of electron microscopes. The use of the program is illustrated on the computations of detectors in scanning electron microscopy.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F05%2F0886" target="_blank" >GA102/05/0886: Výzkum detekčních systémů pravých sekundárních elektronů v nově koncipovaném environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Microscopy and Microanalysis
ISSN
1431-9276
e-ISSN
—
Svazek periodika
13
Číslo periodika v rámci svazku
Suppl. 3
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
2-3
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—