Rozšířený algoritmus pro simulaci transportu světla v monokrystalických scintilačních detektorech pro S(T)EM
Popis výsledku
V práci je presentována nová rozšířená Monte Carlo (MC) metoda simulace pro transport fotonů ve scintilačních detekčních systémech různých tvarů, určených pro detekci zpětně rozptýlených elektronů (BSE) v S(T)EM. Metoda využívá náhodné generace emise fotonů z luminiscenčních center scintilátoru a popisuje trajektorii fotonu a účinnost jeho transportu směrem k fotokatodě fotoelektrického násobiče. Práce vysvětluje nový algoritmus pro stanovení polohy interakce fotonu s povrchem monokrystalického scintilátoru nebo světlovodu téměř libovolných tvarů. Obsaženy jsou rovněž některé příklady využití simulační metody a jsou vyvozeny závěry pro velmi jednoduché scintilační detekční systémy pro signál vedený boční hranou scintilátoru. K demonstraci schopností této MC metody byl vytvořen počítačem optimalizovaný návrh BSE scintilačního detektoru pro SEM Hitachi S 4000.
Klíčová slova
Monte Carlo simulationphoton transportscintillation detectorsingle crystal scintillatorlightguidessignal processingSEMS(T)EM
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Extended Algorithm for Simulation of Light Transport in Single Crystal Scintillation Detectors for S(T)EM
Popis výsledku v původním jazyce
The new extended Monte Carlo (MC) simulation method for photon transport in S(T)EM back scattered electron (BSE) scintillation detection systems of various shapes is presented in this paper. The method makes use of the random generation of photon emission from a scintillator luminescent centre and describes the trajectory of photons and the efficiency of their transport toward the photocathode of the photomultiplier tube. The paper explains a new algorithm for determining the position of interaction ofthe photon with the surface of the single crystal scintillator or of the light guide with nearly arbitrary shapes. Some examples of the utilization of the simulation method are also included, and conclusions for very simple edge-guided signal (EGS) scintillation detection systems made. The computer optimized design of the BSE scintillation detector for the S 4000 Hitachi SEM was chosen to demonstrate the capability of this MC simulation method.
Název v anglickém jazyce
Extended Algorithm for Simulation of Light Transport in Single Crystal Scintillation Detectors for S(T)EM
Popis výsledku anglicky
The new extended Monte Carlo (MC) simulation method for photon transport in S(T)EM back scattered electron (BSE) scintillation detection systems of various shapes is presented in this paper. The method makes use of the random generation of photon emission from a scintillator luminescent centre and describes the trajectory of photons and the efficiency of their transport toward the photocathode of the photomultiplier tube. The paper explains a new algorithm for determining the position of interaction ofthe photon with the surface of the single crystal scintillator or of the light guide with nearly arbitrary shapes. Some examples of the utilization of the simulation method are also included, and conclusions for very simple edge-guided signal (EGS) scintillation detection systems made. The computer optimized design of the BSE scintillation detector for the S 4000 Hitachi SEM was chosen to demonstrate the capability of this MC simulation method.
Klasifikace
Druh
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
GA102/04/2144: Optimalizace scintilačního detektoru pro rastrovací elektronovou mikroskopii
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Scanning
ISSN
0161-0457
e-ISSN
—
Svazek periodika
29
Číslo periodika v rámci svazku
6
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
249-253
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—
Základní informace
Druh výsledku
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Rok uplatnění
2007