Coulombovské interakce v Ga LMIS
Popis výsledku
Pro malé emisní proudy kolem 1 ?A vytvářejí Ga zdroje kapalných kovů (LMIS) malé opticky jasné iontové svazky silně omezené coulombovskými interakcemi. Ukazujeme výpočet energiové šířky svazku, velikosti virtuálního zdroje a jeho jasu založené na přímé integraci pohybových rovnic v numericky spočtených polích v závislosti na velikosti emisního hrotu. Zahrnujeme při výpočtu coulombovské interakce. Srovnání s experimentálními daty umožňuje odhadnout velikost hrotu.
Klíčová slova
liquid-metal ion sourcesCoulomb interactionsenergy widthvirtual source size
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Coulomb interactions in Ga LMIS
Popis výsledku v původním jazyce
For low emission currents from around 1 ?A Ga liquid?metal ion sources (LMIS) produce fine optically bright ion beams that are strongly limited by the Coulomb particle?particle interactions. We present computations of the energy spread, the beam virtualcrossover size, and beam brightness based on direct numerical integration of the equation of motion in a numerically calculated field for a number of dimensions of the emission tip. The Coulomb particle?particle interactions are included into the calculation of ion beam evolution. A comparison with experimental data allows to estimate the tip size.
Název v anglickém jazyce
Coulomb interactions in Ga LMIS
Popis výsledku anglicky
For low emission currents from around 1 ?A Ga liquid?metal ion sources (LMIS) produce fine optically bright ion beams that are strongly limited by the Coulomb particle?particle interactions. We present computations of the energy spread, the beam virtualcrossover size, and beam brightness based on direct numerical integration of the equation of motion in a numerically calculated field for a number of dimensions of the emission tip. The Coulomb particle?particle interactions are included into the calculation of ion beam evolution. A comparison with experimental data allows to estimate the tip size.
Klasifikace
Druh
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
R - Projekt Ramcoveho programu EK
Ostatní
Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Ultramicroscopy
ISSN
0304-3991
e-ISSN
—
Svazek periodika
108
Číslo periodika v rámci svazku
5
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
10
Strana od-do
445-454
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—
Základní informace
Druh výsledku
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Rok uplatnění
2008