Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Properties of modern scintillators compared by nuclear and elektron microscopy methods

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F09%3A00335264" target="_blank" >RIV/68081731:_____/09:00335264 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Properties of modern scintillators compared by nuclear and elektron microscopy methods

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This contribution discusses and compares properties of new coming scintillation materials like CRY018 and others. New materials offer relative increase of detected signal by a factor of about two compared to classical YAG:Ce or YAP:Ce materials. The detection efficiency is studied simultaneously by nuclear methods (multichannel analysator) and by measurements in an electron flux in an SEM. State of the art performance of single crystal detectors for electron microscopy will be presented.

  • Název v anglickém jazyce

    Properties of modern scintillators compared by nuclear and elektron microscopy methods

  • Popis výsledku anglicky

    This contribution discusses and compares properties of new coming scintillation materials like CRY018 and others. New materials offer relative increase of detected signal by a factor of about two compared to classical YAG:Ce or YAP:Ce materials. The detection efficiency is studied simultaneously by nuclear methods (multichannel analysator) and by measurements in an electron flux in an SEM. State of the art performance of single crystal detectors for electron microscopy will be presented.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy

  • ISBN

    978-3-85125-062-6

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    1

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    Verlag der Technischen Universität

  • Místo vydání

    Graz

  • Místo konání akce

    Graz

  • Datum konání akce

    30. 8. 2009

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku