Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F09%3A00335296" target="_blank" >RIV/68081731:_____/09:00335296 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy

  • Popis výsledku v původním jazyce

    For examination of thin films by transmitted electrons (TE) the Transmission Electron Microscope is used at primary beam energies in hundreds of keV. The Scanning Electron Microscopes (SEM) utilize reflected electrons in order to image surfaces but recently the TE mode has been introduced into SEM at much lower electron energies.

  • Název v anglickém jazyce

    Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy

  • Popis výsledku anglicky

    For examination of thin films by transmitted electrons (TE) the Transmission Electron Microscope is used at primary beam energies in hundreds of keV. The Scanning Electron Microscopes (SEM) utilize reflected electrons in order to image surfaces but recently the TE mode has been introduced into SEM at much lower electron energies.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/IAA100650902" target="_blank" >IAA100650902: Rastrovací prozařovací elektronová mikroskopie s velmi pomalými elektrony</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS?09)

  • ISBN

    978-80-254-4535-8

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    1

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    ISI AS CR

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    10. 8. 2009

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku