Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F09%3A00335296" target="_blank" >RIV/68081731:_____/09:00335296 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy
Popis výsledku v původním jazyce
For examination of thin films by transmitted electrons (TE) the Transmission Electron Microscope is used at primary beam energies in hundreds of keV. The Scanning Electron Microscopes (SEM) utilize reflected electrons in order to image surfaces but recently the TE mode has been introduced into SEM at much lower electron energies.
Název v anglickém jazyce
Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy
Popis výsledku anglicky
For examination of thin films by transmitted electrons (TE) the Transmission Electron Microscope is used at primary beam energies in hundreds of keV. The Scanning Electron Microscopes (SEM) utilize reflected electrons in order to image surfaces but recently the TE mode has been introduced into SEM at much lower electron energies.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/IAA100650902" target="_blank" >IAA100650902: Rastrovací prozařovací elektronová mikroskopie s velmi pomalými elektrony</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS?09)
ISBN
978-80-254-4535-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
1
Strana od-do
—
Název nakladatele
ISI AS CR
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
10. 8. 2009
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—