Coincidence imaging System with Electron Optics
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F09%3A00336841" target="_blank" >RIV/68081731:_____/09:00336841 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Coincidence imaging System with Electron Optics
Popis výsledku v původním jazyce
Instrumental neutron activation analysis (INAA) is a widely used method for elemental analysis. After the sample is put into a neutron field, where nuclei of interest become activated, these nuclei emit gamma photons with characteristic energies for eachelement. By measuring gamma spectrum of the activated sample one can determine the sample elemental composition with very high precision. In order to find out the spatial distribution of elements, the sample is usually cut into pieces, which are examined individually. Such procedure is time consuming and the spatial resolution is limited by the size of the pieces. This contribution follows up the work where the semiconductor pixel detector Timepix was used for revealing the concentration and distribution of certain elements in a whole sample at once (imaging coincidence INAA) [1]. Photons detected by a standard semiconductor detector were used to trigger the Timepix device which detected the accompanying electrons.
Název v anglickém jazyce
Coincidence imaging System with Electron Optics
Popis výsledku anglicky
Instrumental neutron activation analysis (INAA) is a widely used method for elemental analysis. After the sample is put into a neutron field, where nuclei of interest become activated, these nuclei emit gamma photons with characteristic energies for eachelement. By measuring gamma spectrum of the activated sample one can determine the sample elemental composition with very high precision. In order to find out the spatial distribution of elements, the sample is usually cut into pieces, which are examined individually. Such procedure is time consuming and the spatial resolution is limited by the size of the pieces. This contribution follows up the work where the semiconductor pixel detector Timepix was used for revealing the concentration and distribution of certain elements in a whole sample at once (imaging coincidence INAA) [1]. Photons detected by a standard semiconductor detector were used to trigger the Timepix device which detected the accompanying electrons.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
11th International Workshop on Radiation Imaging Detectors
ISBN
978-80-01-04378-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
1
Strana od-do
—
Název nakladatele
CTU Press
Místo vydání
Praha
Místo konání akce
Praha
Datum konání akce
26. 6. 2009
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—