Electron optical properties of a focusing magnetic/immersion-magnetic lens combined with a cathode lens

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F11%3A00367278" target="_blank" >RIV/68081731:_____/11:00367278 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Electron optical properties of a focusing magnetic/immersion-magnetic lens combined with a cathode lens

Popis výsledku v původním jazyce

The cathode lens (CL) is an electron optical element used in emission electron microscopes. Special application is in the scanning low energy electron microscope (SLEEM. The CL is using first for retardation of an illuminating electron beam and then foracceleration of reflected as well as secondary electrons. The cathode lens has to be combined with a focusing magnetic lens (sequential fields) or a focusing immersion-magnetic lens (overlapped fields). These two alternatives are compared with regards totheir optical properties, in particular with respect to predicted aberration coefficients (CS, CC) and the spot size, the optimum angular aperture of the primary beam, as well as maximum primary beam current for each system.

Název v anglickém jazyce

Electron optical properties of a focusing magnetic/immersion-magnetic lens combined with a cathode lens

Popis výsledku anglicky

The cathode lens (CL) is an electron optical element used in emission electron microscopes. Special application is in the scanning low energy electron microscope (SLEEM. The CL is using first for retardation of an illuminating electron beam and then foracceleration of reflected as well as secondary electrons. The cathode lens has to be combined with a focusing magnetic lens (sequential fields) or a focusing immersion-magnetic lens (overlapped fields). These two alternatives are compared with regards totheir optical properties, in particular with respect to predicted aberration coefficients (CS, CC) and the spot size, the optimum angular aperture of the primary beam, as well as maximum primary beam current for each system.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

MC 2011 - Microscopy Conference Kiel

ISBN

978-3-00-033910-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

"IM1.112:1"-"2"

Název nakladatele

DGE

Místo vydání

Kiel

Místo konání akce

Kiel

Datum konání akce

28. 8. 2011

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—