Scanning transmission low-energy electron microscopy
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F11%3A00367292" target="_blank" >RIV/68081731:_____/11:00367292 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1147/JRD.2011.2156190" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1147/JRD.2011.2156190</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1147/JRD.2011.2156190" target="_blank" >10.1147/JRD.2011.2156190</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Scanning transmission low-energy electron microscopy
Popis výsledku v původním jazyce
We discuss an extension to the transmission mode of the cathode-lens-equipped scanning electron microscope, enabling operation down to the lowest energies of electrons. Penetration of electrons through free-standing ultrathin films is examined along thefull energy scale, and the contribution of the secondary electrons (SEs), released near the bottom surface of the sample, is shown, enhancing the apparent transmissivity of the sample to more than 100%. Provisional filtering off of the SEs, providing thedark-field signal of forward-scattered electrons, was made using an annular 3-D adjustable detector inserted below the sample. Demonstration experiments were performed on the graphene flakes and on a 3-nm-thick carbon film. Electron penetrability at thelowest energies was measured on the graphene sample.
Název v anglickém jazyce
Scanning transmission low-energy electron microscopy
Popis výsledku anglicky
We discuss an extension to the transmission mode of the cathode-lens-equipped scanning electron microscope, enabling operation down to the lowest energies of electrons. Penetration of electrons through free-standing ultrathin films is examined along thefull energy scale, and the contribution of the secondary electrons (SEs), released near the bottom surface of the sample, is shown, enhancing the apparent transmissivity of the sample to more than 100%. Provisional filtering off of the SEs, providing thedark-field signal of forward-scattered electrons, was made using an annular 3-D adjustable detector inserted below the sample. Demonstration experiments were performed on the graphene flakes and on a 3-nm-thick carbon film. Electron penetrability at thelowest energies was measured on the graphene sample.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
IBM Journal of Research and Development
ISSN
0018-8646
e-ISSN
—
Svazek periodika
55
Číslo periodika v rámci svazku
4
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
"2:1"-"6"
Kód UT WoS článku
000301500600015
EID výsledku v databázi Scopus
—