Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Scanning transmission low-energy electron microscopy

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F11%3A00367292" target="_blank" >RIV/68081731:_____/11:00367292 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1147/JRD.2011.2156190" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1147/JRD.2011.2156190</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1147/JRD.2011.2156190" target="_blank" >10.1147/JRD.2011.2156190</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Scanning transmission low-energy electron microscopy

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We discuss an extension to the transmission mode of the cathode-lens-equipped scanning electron microscope, enabling operation down to the lowest energies of electrons. Penetration of electrons through free-standing ultrathin films is examined along thefull energy scale, and the contribution of the secondary electrons (SEs), released near the bottom surface of the sample, is shown, enhancing the apparent transmissivity of the sample to more than 100%. Provisional filtering off of the SEs, providing thedark-field signal of forward-scattered electrons, was made using an annular 3-D adjustable detector inserted below the sample. Demonstration experiments were performed on the graphene flakes and on a 3-nm-thick carbon film. Electron penetrability at thelowest energies was measured on the graphene sample.

  • Název v anglickém jazyce

    Scanning transmission low-energy electron microscopy

  • Popis výsledku anglicky

    We discuss an extension to the transmission mode of the cathode-lens-equipped scanning electron microscope, enabling operation down to the lowest energies of electrons. Penetration of electrons through free-standing ultrathin films is examined along thefull energy scale, and the contribution of the secondary electrons (SEs), released near the bottom surface of the sample, is shown, enhancing the apparent transmissivity of the sample to more than 100%. Provisional filtering off of the SEs, providing thedark-field signal of forward-scattered electrons, was made using an annular 3-D adjustable detector inserted below the sample. Demonstration experiments were performed on the graphene flakes and on a 3-nm-thick carbon film. Electron penetrability at thelowest energies was measured on the graphene sample.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    IBM Journal of Research and Development

  • ISSN

    0018-8646

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    55

  • Číslo periodika v rámci svazku

    4

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    "2:1"-"6"

  • Kód UT WoS článku

    000301500600015

  • EID výsledku v databázi Scopus