Very low energy electron microscopy of graphene flakes

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00395127" target="_blank" >RIV/68081731:_____/13:00395127 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1111/jmi.12049" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1111/jmi.12049</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1111/jmi.12049" target="_blank" >10.1111/jmi.12049</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Very low energy electron microscopy of graphene flakes

Popis výsledku v původním jazyce

Commercially available graphene samples are examined by Raman spectroscopy and very low energy scanning transmission electron microscopy. Limited lateral resolution of Raman spectroscopy may produce a Raman spectrum corresponding to a single graphene layer even for flakes that can be identified by very low energy electron microscopy as an aggregate of smaller flakes of various thicknesses. In addition to diagnostics of graphene samples at larger dimensions, their electron transmittance can also be measured at very low energies.

Název v anglickém jazyce

Very low energy electron microscopy of graphene flakes

Popis výsledku anglicky

Commercially available graphene samples are examined by Raman spectroscopy and very low energy scanning transmission electron microscopy. Limited lateral resolution of Raman spectroscopy may produce a Raman spectrum corresponding to a single graphene layer even for flakes that can be identified by very low energy electron microscopy as an aggregate of smaller flakes of various thicknesses. In addition to diagnostics of graphene samples at larger dimensions, their electron transmittance can also be measured at very low energies.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Microscopy

ISSN

0022-2720

e-ISSN

—

Svazek periodika

251

Číslo periodika v rámci svazku

2

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

123-127

Kód UT WoS článku

000321618700003

EID výsledku v databázi Scopus

—