Environmental Scanning Electron Microscope As A Tool For Imaging Of Native State Somatic Embryogenesis

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00384090" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00384090 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927612008203" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1017/S1431927612008203</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927612008203" target="_blank" >10.1017/S1431927612008203</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Environmental Scanning Electron Microscope As A Tool For Imaging Of Native State Somatic Embryogenesis

Popis výsledku v původním jazyce

The development of environmental scanning electron microscopy (ESEM) was originally driven by a growing need to overcome the limitations of the conventional SEM in order to facilitate the research and characterization of a greater range of specimen typesand expand the available experimental methodologies. In the environmental scanning electron microscope (ESEM) the specimen, can be observed across a wide range of pressure from the vacuum (comparable with the SEM) to the high pressure of various gases (over a thousand Pa) in the specimen chamber. If the pressure of the gas is sufficiently increased or the temperature of the samples reduced, very wet non-conductive samples can be observed in their natural state and free of charging artefacts.

Název v anglickém jazyce

Environmental Scanning Electron Microscope As A Tool For Imaging Of Native State Somatic Embryogenesis

Popis výsledku anglicky

The development of environmental scanning electron microscopy (ESEM) was originally driven by a growing need to overcome the limitations of the conventional SEM in order to facilitate the research and characterization of a greater range of specimen typesand expand the available experimental methodologies. In the environmental scanning electron microscope (ESEM) the specimen, can be observed across a wide range of pressure from the vacuum (comparable with the SEM) to the high pressure of various gases (over a thousand Pa) in the specimen chamber. If the pressure of the gas is sufficiently increased or the temperature of the samples reduced, very wet non-conductive samples can be observed in their natural state and free of charging artefacts.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microscopy and Microanalysis

ISSN

1431-9276

e-ISSN

—

Svazek periodika

18

Číslo periodika v rámci svazku

Suppl. 2

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

1270-1271

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—