Study of Surface Tooth Treatment using Low-Vacuum Scanning Electron Microscopy.

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F03%3A12030026" target="_blank" >RIV/68081731:_____/03:12030026 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26220/03:PU39619

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Study of Surface Tooth Treatment using Low-Vacuum Scanning Electron Microscopy.

Popis výsledku v původním jazyce

The Low-Vacuum Scanning Electron Microscope (LVSEM) or the Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) allow the visualisation of specimens that are difficult or impossible to image by a conventional High-Vacuum SEM. These instruments permit pressure of the specimen chamber to range from 1 to over 1000 Pa during operation and create images by detecting backscattered electrons [1] or gaseous ions, which are ionised by secondary electrons from the specimen [2]. These microscopes have the advantage of being free from charging artefacts even in non-conductive materials. Another advantage of the ESEM is the possibility of direct observation of specimens containing different volume of water.

Název v anglickém jazyce

Study of Surface Tooth Treatment using Low-Vacuum Scanning Electron Microscopy.

Popis výsledku anglicky

The Low-Vacuum Scanning Electron Microscope (LVSEM) or the Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) allow the visualisation of specimens that are difficult or impossible to image by a conventional High-Vacuum SEM. These instruments permit pressure of the specimen chamber to range from 1 to over 1000 Pa during operation and create images by detecting backscattered electrons [1] or gaseous ions, which are ionised by secondary electrons from the specimen [2]. These microscopes have the advantage of being free from charging artefacts even in non-conductive materials. Another advantage of the ESEM is the possibility of direct observation of specimens containing different volume of water.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F01%2F1271" target="_blank" >GA102/01/1271: Studium detekčních metod a systémů v hraničních podmínkách environmentální rastrovací elektronové mikroskopie</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2003

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microscopy and Microanalysis

ISSN

1431-9276

e-ISSN

—

Svazek periodika

9

Číslo periodika v rámci svazku

Sup. 3

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

428-429

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—