Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Rastrovací elektronový mikroskop s rozlišením pod 1 nm

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00385755" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00385755 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Rastrovací elektronový mikroskop s rozlišením pod 1 nm

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky (ÚPT) v Brně získal mikroskop Magellan, který je absolutní špičkou v oboru rastrovací elektronové mikroskopie. V České republice jde o první instalaci tohoto přístroje. Ve světě jich americká firmaFEI, která má jedno ze svých vývojových a výrobních center také v Brně, uvádí do provozu asi 20 ročně. Přístroj bude sloužit nejen vědcům z ÚPT k základnímu i aplikovanému výzkumu, ale nabídnou jej také kolegům z ostatních ústavů, univerzit a průmyslových firem.

  • Název v anglickém jazyce

    The scanning electron microscope with resolution below 1 nm

  • Popis výsledku anglicky

    The Institute of Scientific Instruments of the Academy of Sciences of the Czech Republic (ISI) in Brno has acquired a Magellan microscope, which belongs to the cutting edge in scanning electron microscopy. In the Czech Republic it is the first installation of this type. The American company FEI puts about 20 of them per year into operation worldwide. One of the FEI development and manufacturing centers is located in Brno. The microscope will serve not only to scientists from the ISI for basic and applied research, but it will also be available to colleagues from other institutes, universities and industrial companies.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/ED0017%2F01%2F01" target="_blank" >ED0017/01/01: APLIKACNÍ A VÝVOJOVÉ LABORATORE POKROCILÝCH MIKROTECHNOLOGIÍ A NANOTECHNOLOGIÍ</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Jemná mechanika a optika

  • ISSN

    0447-6441

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    57

  • Číslo periodika v rámci svazku

    10

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    281-282

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus